产品概述
江凯NBC-LC-80(-40℃)冷热冲击试验箱主要用于测试材料在极高温或极低温瞬间交替环境下的耐受能力，模拟产品因热胀冷缩可能引发的化学变化或物理伤害。该设备采用PID自动控制系统，确保测试的准确性与可靠性，适用于评估材料结构或复合材料在温度冲击下的性能表现。产品分为两厢式和三厢式，满足多项国家标准及国际规范要求。
产品特色
1、采用可编程彩屏韩国进口TEMI8226S触摸屏控制器，操作直观，具备数据保存、预约开关机、实验曲线分析及RS232/USB通讯功能。
2、配备新型PWM冷控制技术，在低温工况下可降低约40%能耗，并采用伺服冷媒流量控制技术节能30%以上。
3、试验循环进行，有效达到5天除霜一次，除霜仅需2小时且不影响冲击时间。
4、采用纯铝翅片蒸发器，降低储能时间和能量消耗。
5、具备两箱和三箱测试功能，符合测试规范。
6、制冷系统采用法国泰康全封闭压缩机组成的二元复叠式水冷系统，高效稳定。
7、空气调节采用强制通风内平衡调温法(BTC)，改善气流，大幅提升温度均匀度。
8、具备完善的安全保护措施，包括工作室超温、制冷机超压/过载/油压、加热器短路/过载、鼓风电机过载及系统漏电保护等。
工作原理
设备通过高温蓄热区和低温蓄冷区（或三厢式结构）实现温度冲击。测试时，样品在高温与低温区域间转换，在最短时间内经历极热与极冷环境。制冷系统采用二元复叠式循环，包含高温和低温两个制冷循环，通过蒸发冷凝器进行能量传递，将工作室内热量传递出去实现降温。空气调节系统采用强制通风内平衡调温法(BTC)，在制冷连续工作时，控制系统通过PID运算控制加热器输出，达到动态平衡，确保温度精确控制。
应用领域
电子电器零元件、自动化零部件、通讯元件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶、国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料
符合标准
GB/T2423.1-2008试验A、GB/T2423.2-2008试验B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107、GJB150.5-86、MIL、IEC、JIS、GB-2423.1-89（IEC68-2-1）、GB-2423.2-89（IEC68-2-2）、GJB360.8-87（MIL-STD-202F）、GBJ150.3(MIL-STD-810D)、GJB150.4(MIL-STD-810D)、国军标GJB150.3-86、国军标GJB150.4-86、国军标GJB150.5-86
操作步骤
1、通过触摸屏控制器设定所需的温度冲击程序、温度范围及时间参数。
2、将待测样品放置于样品测试区的置物架上。
3、选择运行模式（程序运行或恒定运行），启动设备。
4、设备自动进行高低温循环冲击，可在屏幕上监控实时曲线及运行状态。
5、试验结束后，设备具备待测品自动回常温功能，避免结霜结露。
6、通过数据接口（RS232/USB）导出或保存试验数据。
注意事项
• 设备运行环境温度需保持在5℃~40℃，环境湿度≤80%R.H。
• 为保证性能（如达到最低温度），推荐环境温度≤30℃且无凝露。
• 电源要求为AC380V，50~60Hz，功率10~15KW，需确保供电稳定。
• 设备左侧设有Φ50mm引线孔，布线需符合国际电工标准。
• 定期检查制冷剂（R502、R13）及制冷系统状态。
• 注意设备的多项安全保护装置状态，遇故障报警需及时排查。
• 样品放置应确保不影响箱内空气循环，以保持温度均匀。
• 除霜周期约为5天一次，除霜期间请勿进行冲击测试。
