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具备铁基和非铁基双用能力，测量范围0~1250μm，分辨率达0.1μm。采用分体式设计可搭配多种探头，支持单次/连续测量模式及多种数据传输方式。
分类 : 涂层测厚仪
品牌 : DUBAN
编号 : NB044180
标准型涂层测厚仪DB20-CM211C是一款分体型测量设备，具备可靠的数据储存能力，可储存99组测量数据。它适用于铁基和非铁基等多种基材的涂层测量，提供多种数据传输方式，包括RS-232C数据连接线、USB连接和蓝牙传输。整体式设计便于单手操作，测量稳定；分体式设计则提供多种探头，增强测量机动性。
1. 适用于铁基和非铁基涂层测量。 2. 提供单次和连续两种测量模式选择。 3. 可进行公制和英制单位切换，具备手动关机、自动关机和欠压提示等功能。 4. 具备自动记忆校准值和自动识别被测基材材质的功能。 5. 操作时蜂鸣器提示（连续测量时静音）。 6. 支持通过USB数据线、RS-232C数据连接线和软件与PC通讯，蓝牙Bluetooth™ 数据输出为可选配置。 7. 大型探头接触面积大，测量稳定性好，结果重复性高。
资料未提及具体工作原理。
资料未提及具体应用领域。
资料未提及具体符合标准。
资料未提及具体操作步骤。
资料未提及具体注意事项。
