PHYNIX Surfix SX-F0.5A 涂层测厚仪 铁基微型探头磁性测量

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采用外置分离探头和硬质合金制造，测量范围0-500μm，精确度0.7μm+1%，支持免校准测量和在线统计功能，适用于各种曲面和复杂表面。