PHYNIX easy F3.5 易用型铁基探头 Surfix easy E F统计型膜厚仪 测量范围0-3500微米

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采用硬质合金探头，前端V型槽设计确保在水平、柱面或弯曲面上稳定垂直定位。测量范围0-3500微米，误差±2%，具备四种统计值（平均值、标准差、最小值、最大值）。