产品概述
差热分析仪DTA-1550S是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间温度差与温度关系的一种分析仪器。其差热分析曲线描述了样品与参比物之间的温差随温度或时间的变化关系，可用于检测由相转变或反应引起的吸热或放热效应。
产品特色
1. 采用进口高频封闭式陶瓷保温炉体结构，提升信号灵敏度和分辨率，获得更稳定的基线。
2. 配备高性能内核控制处理器，运算处理速度快，控制高效。
3. 传感器采用进口材料设计，K型或E型传感器可通过软件任意切换，适用于高分子材料的相变、玻璃化等实验。
4. 具有相互独立且可通过软件智能设置的气氛控制系统，仪器自动切换气路，实验效率高。
5. 下位机和上位机同时具备多点温度校正功能，提高温度测试准确性。
6. 提供FTC和STC两种实验模式，控温灵活精确，满足不同应用场景需求。
7. 全控温系统采用优化的动态PID算法，提高了双模式控温的鲁棒性。
8. 支持12阶程序控温设置，实验方法多样化；具备循环扫描功能，次数可高达9999次，数据自动保存。
9. 传感器信号采样频率1～10Hz可设置，实验方法灵活，数据可控。
10. 采用双温度传感器设计，可同时分别测试炉体内部温度和样品温度。
11. 设备系统支持升温、降温和等温相关材料实验。
12. 采用USB双向通讯，软件智能化设计，具有基线扣除功能，实验过程自动绘图，可智能化处理玻璃化转变温度、氧化诱导期、熔点及结晶等数据。
工作原理
差热分析（DTA）是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的，差热分析曲线即描述样品与参比物之间的温差随温度或时间的变化关系。
应用领域
相转变、熔化、结晶结构的转变、沸腾、升华、蒸发、脱氢反应、断裂或分解反应、氧化或还原反应、晶格结构的破坏和其他化学反应。
符合标准
GB/T 19466.3 – 2004 / ISO 11357-3: 1999第3部分：熔融和结晶温度及热焓的测定。
