仪器商品分类

    品名 3nh TS8450(Φ8mm) 台式分光测色仪 远方 PSC-30H 便携式分光测色仪
    价格 ¥46800.00 ¥29800.00
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    模型对比
    测量原理 分光式 分光式
    款式 台式 便携式
    测量方式 接触式 接触式
    测量形状 平面 平面 曲面
    测量口径 Φ8mm Φ8mm Φ11mm
    光学结构 45/0° d/8°
    重复性 ≤0.02 ≤0.02
    色差公式 ΔE*ab ΔE*uv ΔE*94 ΔE*00 ΔE*cmc(2:1) ΔE*cmc(1:1) ΔEab(Hunter) ΔE*ab Δ(L*C*h*) ΔE*uv ΔE*94 ΔE*00 ΔE*cmc(2:1) ΔEab(Hunter)
    积分球直径 Φ21~40mm
    特殊功能 荧光测量 交通路标测试 UV测量
    参数对比
    光学结构 45/0(45环形均匀照明0°接收);符合标准CIE No.15,GB/T 3978,GB 2893,GB/T 18833,ISO7724-1,ASTM E1164,DIN5033 Teil7 D/8°
    积分球直径 Φ40mm
    分光方式 平面光栅分光
    传感器 256像元双阵列CMOS图像感应器
    视场角 2°/10° 2°和10°
    照明光源 组合全光谱LED光源,UV光源
    照明光源寿命 5年大于300万次测量
    UV光源 UV光源(组合全光谱LED光源中)
    观测光源 D65,A,C,D50,D55,D75,F1,F2(CWF),F3,F4,F5,F6,F7(DLF),F8,F9,F10(TPL5),F11(TL84),F12(TL83/U30)
    波长范围 400~700nm 400~700nm
    波长间隔 10nm
    半带宽 10nm
    测量口径 定制单一口径:LAV:Φ18mm/Φ20mm;MAV:Φ8mm/Φ10mm;SAV:Φ4mm/Φ5mm Φ11mm/Φ8mm
    色度值重复性 MAV/SCI,ΔE*ab 0.02以内(预热校正后,以间隔5s测量白板30次平均值) <0.02ΔE*ab
    台间差 MAV/SCI,ΔE*ab 0.15以内(BCRA系列Ⅱ 12块色板测量平均值) AVG 0.2 ΔE*ab
    测量时间 约1.8s
    反射率测定范围 0~200% 0~175%
    测量方式 单次测量,平均测量(2~99次) SCI和SCE
    颜色空间 CIE LAB,XYZ,Yxy,LCh,CIE LUV,s-RGB,HunterLab,βxy,DIN Lab99 Munsell(C/2) CIELabCh、CIELab、CIELCh、HunterLab、XYZ、CIELuv、CIE1960UCS、CIE1976UCS、黄度指数、淡色调指数、亮度因数、白度指数等
    色差公式 ΔE*ab,ΔE*uv,ΔE*94,ΔE*cmc(2:1),ΔE*cmc(1:1),ΔE*00, DINΔE99,ΔE(Hunter) CIELab、CIELch、CIELuv、CMC、CIE1994、CIE2000、HunterLab、Metamerism
    白度/黄度/黑度 WI(ASTM E313,CIE/ISO,AATCC,Hunter),YI(ASTM D1925,ASTM 313)
    Tint/同色异谱 同色异谱指数Mt Metamerism
    色牢度/力份/遮盖度 沾色牢度,变色牢度,力份,遮盖度
    光泽度/色调 555色调分类
    数据存储 标样1000条,试样30000条 最大10000
    数据接口 USB,蓝牙®5.0,触发开关接口 USB、蓝牙、WIFI
    显示屏 TFT 真彩 7.0inch,电容触摸屏 4.2寸彩色触控屏
    显示内容 光谱图/数据,样品色度值,色差值/图,合格/不合格结果,颜色仿真,颜色偏向 颜色、色差、全反光率等
    操作语言 简体中文,English,繁体中文
    允许工作温度 0~40℃ 5℃~40℃
    允许相对湿度 0~85%RH(无凝露) 20~85% RH,非冷凝
    存储温度 -20~50℃
    存储湿度 0~85%RH(无凝露)
    供电方式 直流24V,3A电源适配器供电 锂电池
    外形尺寸 370*240*260mm
    净重 约7.8kg
    可选配件 微型打印机、脚踏开关、旋转支架
    特殊功能 温度监控及补偿,内置温度传感器,用于交通路标、标线、反光膜亮度因数、色品坐标测量,内含GB 2893、GB/T 18833标准色,可手动自定义多边形矩形容差,可用于荧光样品测量 可测量平面以及曲面样品