GB/T 4937.23-2023 是半导体器件可靠性测试系列标准的一部分，专门针对高温工作寿命（HTOL）试验。该试验旨在通过施加高温环境（通常高于器件最大额定结温）和额定电应力来加速器件的潜在失效，以评估其在长期工作条件下的可靠性寿命。标准规定了试验条件、测试流程、失效判据以及数据记录与分析要求。该测试通常在可提供稳定高温环境的试验箱中进行，同时需配合使用能提供精确电应力并监测器件参数变化的半导体专用测试系统与老化板。