仪器商品分类

    涡流测厚仪

    涡流测厚仪通过探头产生高频电磁场,在金属表面感应涡流,测量涡流引起的阻抗变化来推算非导电涂层厚度。用于检测金属基材上的油漆、塑料等涂层,在汽车、电子行业控制涂层质量。

    检测仪器

    采用电涡流测厚原理,测量范围0-1000μm,分辨率0.1μm,最小可测凸面曲率3mm,具备自动关机和低电压提示功能。

    ¥ 1200.00

    采用磁感应和电涡流双测厚方法,测量范围0-1500μm,分辨率0.1μm,支持连续和单次测量,具有统计功能和500组数据存储。

    ¥ 1180.00

    采用磁性和涡流两种测厚方法,测量范围0-1250μm,具备自动识别铁基与非铁基体功能,支持单点和两点校准,具有电源欠压指示和统计功能。

    ¥ 600.00

    采用电涡流原理实现0-1250μm测量范围,具备单次连续双模式和大探头设计,支持自动校准基体识别,误差仅±3%分辨率达0.1μm。

    ¥ 1530.00

    采用磁感应和电涡流原理,测量范围0~1250μm,误差±3%,支持蓝牙传输和自动识别基体材质,适合单手操作。

    ¥ 3040.00

    采用磁感应和电涡流双原理,测量范围0~500μm,分辨率达0.1μm,具备耐磨硬质金属探针和自动校准功能,支持USB数据通讯。

    ¥ 1250.00

    采用磁感应和电涡流双原理,测量范围0~2000µm,误差±1~3%,具备自动识别基体材质和记忆校准功能,支持分体式探头增强机动性。

    ¥ 1640.00

    采用磁感应和涡流双测厚方法,测量范围0-1250μm,误差±3%,自动识别铁基与非铁基体,具备统计功能和欠压指示,操作便捷。

    ¥ 660.00

    采用电涡流原理测量范围0~1500μm,误差±1%,配备抗磨连体探头适合单手操作,IP65防护等级,每分钟可测60多个读数,存储1000个测量值。

    ¥ 5610.00

    采用磁感应和电涡流双原理,测量范围0-2000μm,分辨率达0.1μm,具备自动识别基材功能和数据存储能力,支持曲面测量最小凸1.5mm。

    ¥ 2145.00

    采用电涡流测量原理,测量范围0~1250μm,分辨率0.1μm,具备500组数据存储、超限报警和自动关机功能,分体式探头设计便于现场操作。

    ¥ 1280.00

    采用磁感应和电涡流双原理,测量范围0-2000μm,分辨率达0.1μm,具备自动基体识别和99组数据存储统计功能,支持曲面和最小面积测量。

    ¥ 3217.00

    采用磁感应和电涡流原理,测量范围0~1250μm,分辨率0.1μm,可存储99组数据并支持USB和蓝牙传输,配备耐磨硬质金属探针。

    ¥ 2800.00

    采用磁感应和电涡流原理,测量范围0~500um,分辨率0.1μm,具有耐磨硬质金属探针和自动校准功能,支持单次和连续测量模式。

    ¥ 1250.00

    采用磁感应和电涡流双原理,测量范围0~1250μm,分辨率达0.1μm,配备耐磨硬质金属探针,支持99组数据存储和统计计算功能。

    ¥ 2800.00

    应用知识

    涂层测厚仪采用磁性法与涡流法在不同基材上的选型
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种主要方法:磁性法和涡流法。选择方法时,关键要根据基材的电磁特性决定。
    涂层测厚仪在电镀层厚度检测中的应用
    涂层测厚仪用于测量电镀层厚度,主要通过电磁感应法测磁性基体上的非磁性镀层,或用涡流法测非磁性金属基体上的绝缘镀层。
    涡流测厚仪测量非导电基体上金属镀层
    涡流测厚仪利用电磁感应原理,通过探头线圈产生交变磁场,在金属镀层中感应涡流,从而根据线圈阻抗变化测量厚度。
    涂层测厚仪磁感应与电涡流双原理仪器对比
    这篇文章对比了两种涂层测厚仪的原理。选择哪种方法,关键看基体材料:是磁性金属就用磁感应,是非磁性金属就用电涡流。
    涡流测厚仪检测非铁金属上涂层
    涡流测厚仪利用电磁感应原理,通过探头线圈产生交变磁场,在非铁金属基体表面感应出涡流。
    涂层测厚仪测量干膜厚度的原理
    涂层测厚仪通过非破坏性方法测量干膜厚度,常用原理包括电磁感应法、涡流法和超声波法。
    涂层测厚仪磁性法与涡流法的测量原理差异
    涂层测厚仪主要有磁性法和涡流法两种测量原理。选择方法时需根据基体材料特性决定,以确保测量准确。
    涂层测厚仪是什么?原理、用法和应用领域全解析
    文章系统阐述了磁感应与涡流两种核心测量原理的工作方式,详细说明了从校准到数据记录的标准测量流程,深入分析了基材特性、几何形状及环境因素对测量精度的影响。