检测原理
涡流测厚仪基于电磁感应原理工作。当仪器探头内的线圈通入高频交流电时，会产生交变磁场。若探头靠近导电的基体（如铝、铜等非铁金属），该磁场会在基体表层感应出涡流。此涡流会产生一个与原始磁场方向相反的反向磁场，从而影响探头线圈的阻抗。当基体表面覆盖有非导电涂层（如油漆、阳极氧化膜、塑料）时，涂层厚度会改变探头与导电基体间的距离，进而改变线圈的阻抗值。仪器通过精确测量这一阻抗变化，经过内部算法校准与计算，即可得出涂层的厚度值。
测量过程可简化为对线圈阻抗变化的分析。探头线圈的复阻抗Z可表示为：
Z = R + jωL
其中，R为线圈的等效电阻，L为等效电感，ω为交流电的角频率。当存在导电基体及涂层时，阻抗变化量ΔZ与涂层厚度d之间存在特定的函数关系，该关系通过标准片校准确定。
适用涂层
该方法主要适用于测量非铁磁性金属基体上的非导电涂层厚度。常见的适用组合如下表所示。需注意，基体材料的电导率、探头频率及涂层特性均会影响测量准确性。
| 典型基体材料 | 典型涂层类型 |
| 铝及铝合金 | 阳极氧化膜、油漆、粉末涂层 |
| 铜及铜合金 | 清漆、珐琅、橡胶覆层 |
| 不锈钢（奥氏体） | 陶瓷涂层、塑料薄膜 |
| 锌 | 铬酸盐转化膜 |
| 黄铜 | 涂料、油脂薄层 |
对于铁磁性金属基体上的涂层，应选用磁性测厚法。若涂层本身具有导电性，则需评估其导电性对测量的干扰，可能不适用标准涡流法。
仪器校准
为确保测量结果的可靠性，必须依据相关标准对仪器进行规范校准。校准通常使用已知厚度的标准片（箔片或已涂覆基片）在类似被测件的基体上进行。国内外主要技术标准为操作程序提供了依据。
| 标准体系 | 标准编号与名称（核心） |
| 国际标准 | ISO 2360: 非导电涂层厚度测量 |
| 中国国家标准 | GB/T 4957 涡流法测量涂层厚度 |
| 美国材料与试验协会标准 | ASTM B244 阳极氧化膜厚度测量 |
校准步骤一般包括：在洁净、平整、无涂层的基体上进行零点校准；随后在贴有或镀有已知厚度标准片的同材质基体上进行多点校准，以建立厚度与读数的关系曲线。日常测量前，应在被测工件无涂层区域或提供的基体样块上验证零点。
操作要点
实际检测中，多种因素可能影响涡流测厚仪的读数准确性，操作人员需予以关注并采取相应措施。
基体影响：基体金属的电导率是关键因素。不同合金成分、热处理状态会导致电导率差异，从而引入误差。因此，校准所用基体应与被测工件材质一致。对于未知材质，应在相同工件无涂层处或从同一批次取材的基片上进行校准。
几何形状：被测件的曲率、边缘效应及尺寸会影响磁场分布。探头应垂直于测量表面，在小曲率半径或边缘附近测量时，需使用专门校准或评估其适用性。
表面状况：基体与涂层的表面粗糙度会影响测量。粗糙表面会导致读数波动增大，通常取多次测量的平均值。灰尘、油污等附着物必须清除。
操作要点：测量时，探头应平稳、垂直且无压力地接触涂层表面。每个测量点应进行多次读数（如3-5次）并取平均值，以提高代表性。对于大面积工件，应规划足够的测量点以评估厚度均匀性。
应用领域
涡流测厚技术广泛应用于需要对非铁金属表面涂层进行质量控制与工艺监控的工业领域。
主要应用领域：包括但不限于航空航天（铝合金部件涂层）、汽车制造（轮毂、散热器涂层）、建筑型材（铝型材阳极氧化膜、喷涂）、电子电器（铜排绝缘、外壳涂层）以及通用五金制品行业。
技术局限性：该方法不适用于铁磁性材料基体。对于非常薄的涂层（通常低于若干微米）或极厚的涂层，可能超出仪器的线性测量范围。涂层的介电常数、基体厚度过薄（存在基体效应）以及强电磁干扰环境也可能对测量造成干扰。在实际应用中，明确测量需求并评估上述局限性是获得有效数据的前提。
参考文献
ISO 2360, Non-conductive coatings on non-magnetic electrically conductive basis metals — Measurement of coating thickness — Amplitude-sensitive eddy-current method.
GB/T 4957, 非磁性基体金属上非导电覆盖层 覆盖层厚度测量 涡流法.
ASTM B244, Standard Test Method for Measurement of Thickness of Anodic Coatings on Aluminum and of Other Nonconductive Coatings on Nonmagnetic Basis Metals with Eddy-Current Instruments.