采用双阵列256像元CMOS探测器及500万次寿命LED光源，测试波长范围360-780nm，支持三种测量口径自动切换，内置温度监控补偿确保数据准确。
采用双40阵列传感器和D/8结构，支持SCI/SCE同时测量，测试时间约3.2秒，重复性ΔE*ab控制在0.02以内，适用于荧光样品和多种颜色空间分析。
采用45°环形照明结构消除方向依赖性，台间差ΔE*ab≈0.2，色度值重复性ΔE*ab 0.03，内置光泽传感器实现颜色光泽同步测量，测试口朝上设计支持多种形态样品。
采用双阵列256像元CMOS探测器，测量波长范围360~780nm，支持反射和透射测量，四种口径自动切换，内置温度监控及补偿，确保颜色数据精准稳定。
采用双阵列CMOS图像感应器，光谱响应范围宽，反射色度值重复性ΔE*ab ≤0.015，支持多姿态测量和自动温湿度补偿，确保数据稳定可靠。
仪器采用双阵列256像元CMOS探测器及4颗脉冲氙灯，测量波长范围360~780nm，支持Φ25.4/15/8/4mm四种口径自动切换，内置温度监控和补偿确保测量准确性。
采用双40阵列传感器，测量时间约1.5秒，重复性ΔE*ab控制在0.05以内，支持SCI/SCE同时测量和摄像头定位。
具备7英寸TFT电容触摸屏，测试波长范围360~780nm，支持四种测量口径自动切换，内置温度监控补偿，确保测量结果准确稳定。
采用硅光电二极管阵列传感器，重复性ΔE*ab控制在0.025以内，支持SCI/SCE同时测量，内置摄像头定位，7英寸触摸屏操作便捷。
采用256像元双阵列CMOS图像感应器，重复性ΔE*ab控制在0.02以内，支持荧光样品测量，可自定义多边形矩形容差。
采用45/0光学结构和256像元双阵列CMOS感应器，重复性ΔE*ab控制在0.02以内，支持多种测量口径和荧光样品，确保颜色数据准确稳定。
采用256像元双阵列CMOS感应器和平面光栅分光技术，测量重复性ΔE*ab控制在0.02以内，支持荧光样品测量和自定义容差设置。
配备7英寸电容触摸屏和三种自动识别测量口径，采用凹面光栅分光技术，波长范围360-780nm，支持反射和透射测量，内置温度监控确保数据准确性。
测量范围320~685cst，流孔直径6mm，台式设计配有支架，符合ISO2431标准，适用于粘度测量。
测量范围35~135cst，流孔直径4mm，台式设计配备支架，符合ISO2431标准，适用于粘度测试。
