仪器商品分类

    孔面铜测厚仪

    孔面铜测厚仪通过X射线荧光法测量印刷电路板通孔和表面的铜层厚度。仪器发射X射线激发铜原子产生特征X射线,通过检测信号强度换算厚度值。用于PCB制造过程中监控电镀铜均匀性,保障线路导电可靠性。
    仪器选型
    选择时考虑测量范围覆盖1-100μm,配备多尺寸测量孔径适配不同通孔。需要带基材补偿功能消除介质影响,选用自动对焦系统保证测量稳定性。注意配备PCB专用夹具,选择符合ISO3497和ASTM B568标准的设备。

    术语

    标准

    检测仪器

    铜质杯体确保耐用性,流孔直径4mm配合100ml容量,测量流出时间范围0~150s,适用于条件粘度测定。

    ¥ 420.00

    可测量孔径大于2mm的孔内表面粗糙度,最大深度为9mm,同时支持平面和柱面测量,适用于多种异型面检测需求。

    ¥ 2180.00

    可延长50mm,最多加装2根实现100mm深孔测量;适用于深孔内部表面粗糙度检测,需配合测量平台确保稳定性。

    ¥ 520.00

    提供稳定的铜离子浓度标准,确保电极测量精度,250ml包装满足实验室日常校准需求,适用于各种铜离子检测场景。

    ¥ 230.00

    可测量平面和圆柱表面粗糙度,孔径测量范围5mm起,深度可达22mm,适配多种粗糙度仪实现异型面检测。

    ¥ 1250.00

    测量范围0.00~5.00 ppm,精度±0.05 ppm,采用LED@575nm光源,基于化学反应快速检测铜离子浓度,适用于现场和实验室应用。

    ¥ 880.00

    提供额外一年保修期限,适用于涂层测厚仪产品,需在购买设备时同步选购,不单独售卖。

    ¥ 300.00

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    采用三道轮结构设计,中心轮接触膜层直接读数,量程0-500μm分度25μm,可在平面和曲面进行无损厚度测量。

    ¥ 699.00

    采用2.0MHz频率,专为铸铁等粗晶材质设计,内凹曲面结构适配特殊工件形状,测量范围覆盖2.0~400.0mm,管材测量下限达Φ30*4mm。

    ¥ 1300.00

    采用电涡流测厚原理,测量范围0-1000μm,分辨率0.1μm,最小可测凸面曲率3mm,具备自动关机和低电压提示功能。

    ¥ 1200.00

    采用磁感应原理,测量范围0~1250μm,适配leeb220和leeb222涂层测厚仪,耐磨性好,适用于多种非磁性涂层厚度检测。

    ¥ 520.00

    采用90°测量角度和电涡流原理,可精确测量边缘涂层、窄管涂层及小型表面区域,确保在复杂几何形状上的稳定可靠测量。

    ¥ 1000.00

    冲击能量11mN,冲击装置质量75g,可测量内孔或狭小空间内部表层,适用于多种试件类型和表面条件。

    ¥ 4180.00

    流出孔径4mm,测量范围0-150秒,铜制材质耐用且符合国家标准,便携设计方便现场快速检测涂料粘度。

    ¥ 310.00

    应用知识

    超声波测厚仪选型 探头配置与测量模式的技术考量
    这篇文章主要介绍了超声波测厚仪选型时需考虑的技术因素。探头配置方面,频率高低影响分辨率和穿透深度,晶片尺寸决定适应曲率和表面状态,双晶探头比单晶盲区更小,延迟块适用于薄壁和高温场景。
    机械测厚仪测薄膜厚度均匀性
    机械测厚仪通过接触式测量评估薄膜厚度均匀性。测量时,测头在标准压力下接触样品,将位移转换为厚度读数。
    涂层测厚仪采用磁性法与涡流法在不同基材上的选型
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种主要方法:磁性法和涡流法。选择方法时,关键要根据基材的电磁特性决定。
    涂层测厚仪在电镀层厚度检测中的应用
    涂层测厚仪用于测量电镀层厚度,主要通过电磁感应法测磁性基体上的非磁性镀层,或用涡流法测非磁性金属基体上的绝缘镀层。
    库仑测厚仪测量阳极氧化膜封孔质量
    这篇文章介绍了用库仑测厚仪测量阳极氧化膜封孔质量的方法。封孔质量会影响氧化膜的耐腐蚀和耐磨性能。库仑测厚仪通过电化学原理,测量溶解氧化膜所需的电量来评估封孔效果,结果客观可重复。
    超声波测厚仪检测厚涂层及复合涂层
    超声波测厚仪利用超声波脉冲反射原理测量涂层厚度,通过计算声波在材料中的传播时间与声速得出结果。检测厚涂层和复合涂层时,需应对材料声衰减、声速未知及多层界面信号识别等挑战。
    涡流测厚仪测量非导电基体上金属镀层
    涡流测厚仪利用电磁感应原理,通过探头线圈产生交变磁场,在金属镀层中感应涡流,从而根据线圈阻抗变化测量厚度。
    库仑法涂层测厚仪对贵金属镀层的无损测量
    库仑法涂层测厚仪通过电解溶解原理,测量溶解贵金属镀层所需的电量来计算厚度。该方法对样品整体无损,仅形成微小电解斑点。
    涂层测厚仪磁感应与电涡流双原理仪器对比
    这篇文章对比了两种涂层测厚仪的原理。选择哪种方法,关键看基体材料:是磁性金属就用磁感应,是非磁性金属就用电涡流。
    电解测厚仪在精密电镀层质量控制中的应用
    电解测厚仪通过电化学溶解原理测量镀层厚度,依据法拉第定律计算,精度高且不依赖校准。
    超声波测厚仪测量软包装材料厚度
    这篇文章介绍了超声波测厚仪测量软包装材料厚度的原理、技术要点和操作流程。它基于超声波脉冲反射原理,通过测量声波在材料中的传播时间计算厚度。
    涡流测厚仪检测非铁金属上涂层
    涡流测厚仪利用电磁感应原理,通过探头线圈产生交变磁场,在非铁金属基体表面感应出涡流。
    磁性测厚仪测量钢铁表面涂层厚度
    磁性测厚仪用于测量钢铁等铁磁性基体表面的非磁性涂层厚度,其原理基于磁感应或磁吸力变化。使用前需按相关标准校准,并注意基体特性、工件形状、表面状况等因素对测量的影响。
    涂层测厚仪测量干膜厚度的原理
    涂层测厚仪通过非破坏性方法测量干膜厚度,常用原理包括电磁感应法、涡流法和超声波法。
    涂层测厚仪零点校准与基材校准的标准操作流程
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种关键校准方法:零点校准和基材校准。操作中要注意探头垂直、压力均匀,并定期校准和记录。这些步骤能有效提升测量准确性,满足行业标准要求。