仪器商品分类

    铜箔粗糙度检测仪

    铜箔粗糙度检测仪通过接触式探针扫描表面轮廓,计算峰谷高度差得出粗糙度数值。用于评估铜箔表面平整度,在PCB制造中监控覆铜板质量,确保线路附着力和信号传输稳定性。
    仪器选型
    选择时考虑测量范围覆盖0.1-10μm,探针压力低于1mN防止划伤,配备环境振动隔离功能。兼容行业标准算法,支持自动多点测量,操作界面简洁,满足产线快速检测需求。

    检测仪器

    可延长50mm,最多加装2根实现100mm深孔测量;适用于深孔内部表面粗糙度检测,需配合测量平台确保稳定性。

    最大负荷50Kg,试验速度10~60mm/min可调,采用指针感应方式,有效行程0~360mm,适用于垂直角度剥离测试。

    ¥ 3980.00

    可测量平面和圆柱表面粗糙度,孔径测量范围5mm起,深度可达22mm,适配多种粗糙度仪实现异型面检测。

    可测量平面、圆柱表面粗糙度,内孔最小直径5mm、深度最大22mm,支持多种传感器适配不同工件形状。

    ¥ 1600.00

    可测量孔径大于2mm的孔内表面粗糙度,最大深度为9mm,同时支持平面和柱面测量,适用于多种异型面检测需求。

    采用DSP芯片控制,测量速度快功耗低;支持160μm大量程测量,最高可达320μm;具备多参数测量功能,兼容ISO、DIN、ANSI、JIS多个国家标准。

    ¥ 8000.00

    采用高速DSP处理器提升测量速度,支持Ra0.05-10.0μm测量范围,传感器主机一体化设计便于现场使用,可测外圆平面锥面及沟槽。

    ¥ 6640.00

    可测量槽宽大于3mm、槽深小于10mm的沟槽表面粗糙度,同时兼容平面和柱面测量,配合测量平台使用实现精准检测。

    提供25、40、70、100四种剖面规格,尺寸87x87x2.5mm,重量仅60克,便携式设计方便现场快速比对评估。

    ¥ 2676.00

    提供稳定的铜离子浓度标准,确保电极测量精度,250ml包装满足实验室日常校准需求,适用于各种铜离子检测场景。

    ¥ 230.00

    该设备采用1200-1500lx光照度,通过刻度显微镜实现80倍放大和0.01mm分辨率,可测量最大孔径2mm,适用于铝箔针孔透光性观察。

    ¥ 2980.00

    采用复制胶带法测量表面粗糙度,峰值测量范围20~115μm,精度±5μm,具备自动减去基板功能,防护等级高,可防溶剂和水尘。

    ¥ 5340.00

    体积小巧仅106*70*24mm,重量200克便于携带;可测量外圆、锥面、平面及沟槽,示值误差≤±15%,采用压电晶体传感器确保测量可靠性。

    测量范围0~500μm,测针角度60度,每分钟可测超50个读数,具备内置温度补偿和氧化铝耐磨面设计,符合ASTM D4417等国际标准。

    ¥ 8450.00

    内置测针设计测量范围0~500微米,每分钟可测超50个读数,配备碳化钨测针尖端和氧化铝耐磨面,具备温度补偿功能并符合多项国际标准。

    ¥ 5230.00