观测角0.2°~2.0°连续可调，入射角-40°~+40°可调，采用硅二极管探测器和锂电池供电，支持连续工作30小时以上，适合室内外测量。
采用45/0环形均匀照明结构，测量时间仅需1.5秒，色度值重复性ΔE*ab 0.04以内，支持多边形容差标样判定，可自定义色域范围，满足特殊检测需求。
具备0.2°~2.0°连续可调观测角和多种入射角设置，测量范围0~1999 mcd•lx-1，采用硅二极管探测器和标准A光源，确保测量精度与国际标准一致。
采用2850mm导砂管和850μm过滤网控制落砂，校正漏斗可调整砂量均匀性，样品架可自由调节高度和水平方向，确保测试精度和可靠性。
该仪器观测角0.2°~2.0°连续可调，入射角覆盖±0°至±20°，测量范围达0~3000 mcd•lx-1，采用硅二极管探测器和标准A光源，确保测量准确性。
该设备冲击锤头半径为6.4mm，总质量190±2g，结构合理、操作简单、适用性广、测量精度高且安全可靠，符合GB/T24725-2009标准要求。
具备三种频率计权和四种测量参数，测量范围30-130dB，可储存30组数据并支持USB/蓝牙多种输出方式，满足不同场景的精确测量需求。
采用45/0环形照明几何结构，配备Φ8mm和Φ4mm双测量口径，色度值重复性ΔE*ab 0.03以内，支持荧光样品测量及多种色差公式计算。
采用数字检波技术提升稳定性，支持800组数据存储和6天连续测量，测量范围30-130dB，配备A/C/线性频率计权和快慢时间计权档位。
采用45/0几何光学结构，配备Φ20mm测量口径和凹面光栅分光，可准确测量反射率及色度数据，具有高稳定性和重复性，适合条纹或颗粒状样品。
采用45/0环形照明结构，配备256像元双阵列CMOS探测器，色度值重复性ΔE*ab 0.05以内，支持多种测量口径和颜色空间，满足精确配色需求。
具备三种频率计权和四种测量模式，测量范围30-130dB，精度达1dB，内置30组数据存储功能，支持USB和蓝牙数据传输。
采用45/0几何光学结构，配备256像元双阵列CMOS探测器，色度值重复性ΔE*ab 0.05以内，支持多种色差公式和颜色指数测量。
