仪器商品分类

    化学镍金测厚仪

    化学镍金测厚仪通过X射线荧光原理,测量镀层厚度。仪器发射X射线激发样品原子,检测特征X射线强度,换算成厚度值。用于电路板镀层质量控制,确保导电性和焊接可靠性。

    检测仪器

    采用大水槽设计降低浮力误差,可测试镀膜厚度>30μm的巴西火烧金,密度精度达0.0001g/cm³,支持多种贵金属混合比分析。

    ¥ 2660.00

    可测量多种金属镀层及合金镀层,测量范围0~300μm,分辨率达0.01μm,支持多层镍电位差分析,测试尺寸可选φ2.4mm至φ0.8mm。

    ¥ 18000.00

    采用大水槽设计降低浮力误差,密度精度达0.001g/cm³,可测试镀膜厚度>30μm的巴西火烧金,支持多种贵金属混合比测定。

    ¥ 2410.00

    采用分光光度法检测镍浓度,检测下限0.1mg/L,配备进口冷光源寿命达10万小时,支持多种测量模式和无线数据传输功能。

    ¥ 4600.00

    采用分光光度法检测镍含量,测量范围0.00-7.00g/L,精度±0.10g/L,配备LED@575nm光源,操作简便无需复杂预处理,适用于快速批量检测需求。

    ¥ 880.00

    测量范围0.03~50μm,分辨率0.01μm,支持单层、多层及合金镀层测试,内置热敏打印机自动输出统计报告,适用于线材及柱状工件。

    ¥ 8000.00

    采用预先测量设计实现快速比色分析,与镍反应生成蓝色复合物,测量范围覆盖0.00~7.00 g/L,适配多种光度计仪器。

    ¥ 2890.00

    密度精度达0.001g/cm³,最大称量310g,内置多种密度参照可自定义设置,支持固体液体粉末及吸水性样品测试,配备水平指示器和过载报警功能。

    ¥ 2800.00

    采用吊水法原理,测量精度达0.001g/cm³,支持温度补偿和混合比重测定,可循环显示K数和纯度%,具备超限提示功能,操作仅需两步。

    ¥ 1640.00

    采用吊水法原理,测量范围5-600g,密度精度0.001g/cm³,具有温度补偿和混合比测定功能,测试后不留痕迹。

    ¥ 1890.00

    采用吊水法测量原理,密度精度达0.001g/cm³,支持一键清零和温度补偿功能,可循环显示K数和纯度百分比,并具备混合比重测定及超限提示功能。

    ¥ 2280.00

    采用薄膜层压技术,具备出色耐溶剂和耐化学性,纸张厚度0.29mm且无荧光增白剂,确保涂布均匀性和测试准确性。

    ¥ 1968.00

    测量范围0.03-50um,分辨率0.01um,支持多层镀层和合金镀层测量,配备自定义热键和液晶显示屏,操作简便无需调整灵敏度。

    ¥ 7200.00

    采用薄膜层压技术,具备出色耐溶剂和耐化学性,纸张厚度0.29mm且无荧光增白剂,确保测试结果准确可靠。

    ¥ 3482.00

    采用薄膜层压工艺,具备耐溶剂性和耐化学性,纸张厚度0.29mm,表面覆膜确保涂布均匀性,带有注释部分便于记录测试信息。

    ¥ 1055.00

    应用知识

    超声波测厚仪选型 探头配置与测量模式的技术考量
    这篇文章主要介绍了超声波测厚仪选型时需考虑的技术因素。探头配置方面,频率高低影响分辨率和穿透深度,晶片尺寸决定适应曲率和表面状态,双晶探头比单晶盲区更小,延迟块适用于薄壁和高温场景。
    机械测厚仪测薄膜厚度均匀性
    机械测厚仪通过接触式测量评估薄膜厚度均匀性。测量时,测头在标准压力下接触样品,将位移转换为厚度读数。
    涂层测厚仪采用磁性法与涡流法在不同基材上的选型
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种主要方法:磁性法和涡流法。选择方法时,关键要根据基材的电磁特性决定。
    涂层测厚仪在电镀层厚度检测中的应用
    涂层测厚仪用于测量电镀层厚度,主要通过电磁感应法测磁性基体上的非磁性镀层,或用涡流法测非磁性金属基体上的绝缘镀层。
    库仑测厚仪测量阳极氧化膜封孔质量
    这篇文章介绍了用库仑测厚仪测量阳极氧化膜封孔质量的方法。封孔质量会影响氧化膜的耐腐蚀和耐磨性能。库仑测厚仪通过电化学原理,测量溶解氧化膜所需的电量来评估封孔效果,结果客观可重复。
    超声波测厚仪检测厚涂层及复合涂层
    超声波测厚仪利用超声波脉冲反射原理测量涂层厚度,通过计算声波在材料中的传播时间与声速得出结果。检测厚涂层和复合涂层时,需应对材料声衰减、声速未知及多层界面信号识别等挑战。
    涡流测厚仪测量非导电基体上金属镀层
    涡流测厚仪利用电磁感应原理,通过探头线圈产生交变磁场,在金属镀层中感应涡流,从而根据线圈阻抗变化测量厚度。
    库仑法涂层测厚仪对贵金属镀层的无损测量
    库仑法涂层测厚仪通过电解溶解原理,测量溶解贵金属镀层所需的电量来计算厚度。该方法对样品整体无损,仅形成微小电解斑点。
    涂层测厚仪磁感应与电涡流双原理仪器对比
    这篇文章对比了两种涂层测厚仪的原理。选择哪种方法,关键看基体材料:是磁性金属就用磁感应,是非磁性金属就用电涡流。
    电解测厚仪在精密电镀层质量控制中的应用
    电解测厚仪通过电化学溶解原理测量镀层厚度,依据法拉第定律计算,精度高且不依赖校准。
    超声波测厚仪测量软包装材料厚度
    这篇文章介绍了超声波测厚仪测量软包装材料厚度的原理、技术要点和操作流程。它基于超声波脉冲反射原理,通过测量声波在材料中的传播时间计算厚度。
    涡流测厚仪检测非铁金属上涂层
    涡流测厚仪利用电磁感应原理,通过探头线圈产生交变磁场,在非铁金属基体表面感应出涡流。
    磁性测厚仪测量钢铁表面涂层厚度
    磁性测厚仪用于测量钢铁等铁磁性基体表面的非磁性涂层厚度,其原理基于磁感应或磁吸力变化。使用前需按相关标准校准,并注意基体特性、工件形状、表面状况等因素对测量的影响。
    涂层测厚仪测量干膜厚度的原理
    涂层测厚仪通过非破坏性方法测量干膜厚度,常用原理包括电磁感应法、涡流法和超声波法。
    涂层测厚仪零点校准与基材校准的标准操作流程
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种关键校准方法:零点校准和基材校准。操作中要注意探头垂直、压力均匀,并定期校准和记录。这些步骤能有效提升测量准确性,满足行业标准要求。