具备260*200热成像分辨率和70mK热灵敏度，可快速定位电路板异常温升点，支持-10~120℃测温范围，配备可调镜头和多向调节支架，便于精确观测电路板热分布状态。
采用三箱设备结构，温度转换时间不超过10秒，温度控制精度达±0.5℃，风路切换方式实现快速冷热冲击，适用于材料物理化学变化测试。
采用二箱移动式冲击结构，冷热冲击机构移动时间在10秒内，温度恢复时间≤5分钟，配备硬质聚氨酯泡沫保温材料，有效节能且防水防潮。
采用二箱移动式结构，气压驱动测试物冲击，冷热冲击机构移动时间10秒内，温度恢复时间5分钟内，符合MIL等国际测试标准。
采用二箱移动式结构，冷热冲击机构移动时间10秒内，温度恢复时间5分钟内，配备HFC环保冷媒和二元超低温冷冻系统，降温快速效率高，支持无纸记录和实时曲线显示功能。
采用三箱结构区分高温区、低温区和测试区，风路切换实现温度冲击，最大循环周期达9999次，控温范围-60~150℃，支持自动循环或手动选择性冲击。
采用三箱结构风路切换方式实现静态测试，最大冲击时间999小时，循环周期9999次，配备二元冷冻系统快速降温，支持自动循环或手动选择性冲击。
采用三箱结构设计，温度转换时间不超过10秒，温度控制精度达±0.5℃，通过风路切换实现冷热冲击测试，配备触控式图控操作界面简化操作流程。
采用三箱蓄热结构实现强制风路切换，温度恢复时间≤5分钟，转换仅需10秒。具备高温区、低温区和测试区独立控温，可执行2箱或3箱冲击模式，满足不同测试需求。
采用三箱结构设计，测试样品静止于测试区，温度恢复时间≤5min，转换时间≤10s，具备高温、低温及冷热冲击三种测试功能，满足多种标准要求。
采用三箱结构风路切换技术，温度范围覆盖-60℃至150℃，最大循环周期达9999次，具备二元冷冻系统实现快速降温，支持自动循环和手动冲击模式。
采用三箱结构实现静态测试，温度转换时间≤10秒，温度恢复≤5分钟，风路切换方式导入温度，控温精度±0.5℃，适用于材料热胀冷缩测试。
采用二箱移动式结构，气压驱动测试物冲击，冷热冲击机构移动时间10秒内，温度恢复时间5分钟内，符合MIL、IEC等规范要求，具备无纸记录和实时曲线显示功能。
三箱结构实现高温低温区独立控温，温度转换时间≤10秒，控温精度±0.5℃，采用风路切换冲击方式，配备微电脑平衡调温系统。
采用二箱移动式冲击结构，气压驱动测试物上下移动，冷热冲击机构移动时间10秒内，温度恢复时间5分钟内，配备HFC环保冷媒和超低温冷冻系统，降温快速高效。
