仪器商品分类

    涡流式测厚仪

    涡流式测厚仪通过探头产生高频电磁场,在金属表面感应涡流,测量涡流引起的阻抗变化计算涂层厚度。用于检测非导电涂层在金属基材上的厚度,适用于铝、铜等基材的油漆、塑料涂层测量。

    检测仪器

    具备点动与连续两种运转模式,最高转速2500rpm,可处理2000ml容量样品,集成磁力搅拌、旋涡混合和微孔板振荡多功能。

    ¥ 2000.00

    采用偏心球轴设计确保混合均匀,固定转速2800RPM实现快速旋涡混合,TPU材质台面耐磨耐腐蚀,体积小巧且噪音低。

    ¥ 720.00

    采用偏心球轴结构确保混合均匀,固定2800RPM转速实现快速旋涡混合,TPU材质台面耐磨耐腐且防护等级达IP21,适合长时间稳定运行。

    ¥ 600.00

    采用电涡流测厚原理,测量范围0-1000μm,分辨率0.1μm,最小可测凸面曲率3mm,具备自动关机和低电压提示功能。

    ¥ 1200.00

    采用磁性和涡流两种测厚方法,测量范围0-1250μm,具备自动识别铁基与非铁基体功能,支持单点和两点校准,具有电源欠压指示和统计功能。

    ¥ 600.00

    采用偏心球轴设计确保混合均匀,固定转速2800RPM实现快速旋涡混合,TPU材质工作台面耐磨耐腐蚀,结构紧凑噪音低功耗仅60W。

    ¥ 925.00

    采用磁感应和电涡流双测厚方法,测量范围0-1500μm,分辨率0.1μm,支持连续和单次测量,具有统计功能和500组数据存储。

    ¥ 1180.00

    采用磁感应和涡流双测厚方法,测量范围0-1250μm,误差±3%,自动识别铁基与非铁基体,具备统计功能和欠压指示,操作便捷。

    ¥ 660.00

    采用电涡流原理测量非铁金属基材上非导电涂层,厚度范围0~625μm,误差±3%,具备IP65防护等级和每分钟60多个读数的快速测量能力。

    ¥ 7840.00

    采用磁感应和电涡流两种测量方法,覆盖0-1500μm范围,分辨率达0.1μm,支持连续和单次测量模式,具备统计功能和500组数据存储,适用于不同曲率半径和基体厚度场景。

    ¥ 1050.00

    采用磁感应和电涡流双原理,测量范围0-1500μm,具备温度补偿功能,支持连续快速和高精度测量模式,可存储500组数据并自动过滤异常值。

    ¥ 1180.00

    采用电涡流原理实现0-1250μm测量范围,具备单次连续双模式和大探头设计,支持自动校准基体识别,误差仅±3%分辨率达0.1μm。

    ¥ 1530.00

    采用磁感应和电涡流原理,测量范围0~1250μm,误差±3%,支持蓝牙传输和自动识别基体材质,适合单手操作。

    ¥ 3040.00

    采用磁感应和电涡流双原理,测量范围0-2000μm,分辨率达0.1μm,具备自动识别基材功能和数据存储能力,支持曲面测量最小凸1.5mm。

    ¥ 2145.00

    采用磁感应和电涡流双原理,测量范围0-1500μm,分辨率0.1μm,探头耐磨50万次以上,支持镀锌克重与厚度切换显示,适用于各种金属基体检测。

    ¥ 1520.00

    应用知识

    涂层测厚仪采用磁性法与涡流法在不同基材上的选型
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种主要方法:磁性法和涡流法。选择方法时,关键要根据基材的电磁特性决定。
    涂层测厚仪在电镀层厚度检测中的应用
    涂层测厚仪用于测量电镀层厚度,主要通过电磁感应法测磁性基体上的非磁性镀层,或用涡流法测非磁性金属基体上的绝缘镀层。
    涡流测厚仪测量非导电基体上金属镀层
    涡流测厚仪利用电磁感应原理,通过探头线圈产生交变磁场,在金属镀层中感应涡流,从而根据线圈阻抗变化测量厚度。
    涂层测厚仪磁感应与电涡流双原理仪器对比
    这篇文章对比了两种涂层测厚仪的原理。选择哪种方法,关键看基体材料:是磁性金属就用磁感应,是非磁性金属就用电涡流。
    涡流测厚仪检测非铁金属上涂层
    涡流测厚仪利用电磁感应原理,通过探头线圈产生交变磁场,在非铁金属基体表面感应出涡流。
    涂层测厚仪测量干膜厚度的原理
    涂层测厚仪通过非破坏性方法测量干膜厚度,常用原理包括电磁感应法、涡流法和超声波法。
    涂层测厚仪磁性法与涡流法的测量原理差异
    涂层测厚仪主要有磁性法和涡流法两种测量原理。选择方法时需根据基体材料特性决定,以确保测量准确。
    涂层测厚仪是什么?原理、用法和应用领域全解析
    文章系统阐述了磁感应与涡流两种核心测量原理的工作方式,详细说明了从校准到数据记录的标准测量流程,深入分析了基材特性、几何形状及环境因素对测量精度的影响。