仪器商品分类

    薄片测厚仪

    薄片测厚仪通过接触或非接触方式测量材料厚度,利用机械探针、超声波或激光检测样品表面与基准面距离。用于监控薄膜、纸张、涂层等材料的厚度均匀性,保障生产质量稳定。
    仪器选型
    选择薄片测厚仪需考虑材料特性,软质材料用非接触式避免变形;根据精度需求选机械式或激光式;匹配样品尺寸和厚度范围;注意环境因素如温度对测量的影响。

    术语

    标准

    检测仪器

    采用回波-回波技术实现0.15mm超薄件测量,分辨率达0.001mm,可穿透0.5mm涂层测量基材厚度,支持声速校准和差值模式设置。

    压针行程0-1.25mm,测量误差±1HAM,压针端部压力324-764mN,适用于厚度1.5mm以上薄橡胶试样,可配合定负荷测定架使用。

    ¥ 6500.00

    压针行程0-1.25mm,测量误差±1HAM,适用于厚度1.5mm以上薄橡胶样品,灵敏度高,需配合定负荷测定架使用确保准确度。

    ¥ 5250.00

    采用7.5MHz高频探头,测量范围0.7~50mm,适用于薄壁及小弧面工件,管材测量下限达Φ25*1.2mm,适应性强。

    ¥ 1100.00

    采用杂波飞渡技术实现0.15mm超薄件测量,最高分辨率达0.001mm,支持穿越涂层测量和蓝牙通信,具备语音播报和LED背光功能。

    频率10MHz,测量范围0.65~20mm,适用于薄壁及小弧面工件,管材测量下限Φ10*1.0mm。

    ¥ 1600.00

    采用杂波飞渡技术实现超薄件测量,最小厚度达0.15mm,最高分辨率0.001mm,具备两种测量模式和穿越涂层测量功能,配备15MHz单晶延迟探头。

    ¥ 6850.00

    测量范围0-20mm,精度0.001mm,接触压力20±5kPa,适用于纸张、纸板及片状材料厚度检测,符合多项国际标准。

    ¥ 2030.00

    测量范围0~12.7mm,分辨率达0.001mm,接触压力20±0.5Kpa确保测量稳定性,适用于各类薄片材料厚度检测。

    ¥ 2910.00

    采用磁感应原理,测量范围0.0~500μm,误差±(0.3μm+2%),超小测头适合钉子、螺栓等小工件薄镀层测量,具有多点校准和统计功能,确保高重复性和稳定性。

    ¥ 5160.00

    冲击能量3N,冲击装置质量75g,适用于测量小的或轻薄的试件及表面硬化层,可测量最小厚度1mm和最小硬化层深度0.2mm。

    ¥ 4280.00

    采用机械测量法,测量范围0~1mm,精度≤0.005mm,分度值0.001mm,测头直径Φ5mm,适用于平面薄膜和薄片,提供两种测头压力选择。

    ¥ 1200.00

    测量范围0-20mm,精度达0.001mm,接触压力20±5kPa,适用于松紧度不同的片状材料,满足多项国际标准要求。

    ¥ 2260.00

    测量范围0-4mm,接触压力100±10kPa,接触面积200mm²,具备高精度示值误差±0.0025mm,适用于各类片状材料厚度测量。

    ¥ 2570.00

    采用压力转换器感应,容量50kg/cm²,送油速度175±5mL/min(纸板),自动完成加压退压操作,测试结果自动保留并打印输出。

    ¥ 7900.00

    应用知识