仪器商品分类

    薄片测厚仪

    薄片测厚仪通过接触或非接触方式测量材料厚度,利用机械探针、超声波或激光检测样品表面与基准面距离。用于监控薄膜、纸张、涂层等材料的厚度均匀性,保障生产质量稳定。
    仪器选型
    选择薄片测厚仪需考虑材料特性,软质材料用非接触式避免变形;根据精度需求选机械式或激光式;匹配样品尺寸和厚度范围;注意环境因素如温度对测量的影响。

    术语

    标准

    检测仪器

    采用回波-回波技术实现0.15mm超薄件测量,分辨率达0.001mm,可穿透0.5mm涂层测量基材厚度,支持声速校准和差值模式设置。

    ¥ 9800.00

    压针行程0-1.25mm,测量误差±1HAM,压针端部压力324-764mN,适用于厚度1.5mm以上薄橡胶试样,可配合定负荷测定架使用。

    ¥ 6500.00

    压针行程0-1.25mm,测量误差±1HAM,适用于厚度1.5mm以上薄橡胶样品,灵敏度高,需配合定负荷测定架使用确保准确度。

    ¥ 5250.00

    采用7.5MHz高频探头,测量范围0.7~50mm,适用于薄壁及小弧面工件,管材测量下限达Φ25*1.2mm,适应性强。

    ¥ 1100.00

    采用杂波飞渡技术实现0.15mm超薄件测量,最高分辨率达0.001mm,支持穿越涂层测量和蓝牙通信,具备语音播报和LED背光功能。

    ¥ 5700.00

    频率10MHz,测量范围0.65~20mm,适用于薄壁及小弧面工件,管材测量下限Φ10*1.0mm。

    ¥ 1600.00

    采用杂波飞渡技术实现超薄件测量,最小厚度达0.15mm,最高分辨率0.001mm,具备两种测量模式和穿越涂层测量功能,配备15MHz单晶延迟探头。

    ¥ 6850.00

    测量范围0-20mm,精度0.001mm,接触压力20±5kPa,适用于纸张、纸板及片状材料厚度检测,符合多项国际标准。

    ¥ 2030.00

    测量范围0~12.7mm,分辨率达0.001mm,接触压力20±0.5Kpa确保测量稳定性,适用于各类薄片材料厚度检测。

    ¥ 2910.00

    采用磁感应原理,测量范围0.0~500μm,误差±(0.3μm+2%),超小测头适合钉子、螺栓等小工件薄镀层测量,具有多点校准和统计功能,确保高重复性和稳定性。

    ¥ 5160.00

    冲击能量3N,冲击装置质量75g,适用于测量小的或轻薄的试件及表面硬化层,可测量最小厚度1mm和最小硬化层深度0.2mm。

    ¥ 4280.00

    采用机械测量法,测量范围0~1mm,精度≤0.005mm,分度值0.001mm,测头直径Φ5mm,适用于平面薄膜和薄片,提供两种测头压力选择。

    ¥ 1200.00

    测量范围0-20mm,精度达0.001mm,接触压力20±5kPa,适用于松紧度不同的片状材料,满足多项国际标准要求。

    ¥ 2260.00

    测量范围0-4mm,接触压力100±10kPa,接触面积200mm²,具备高精度示值误差±0.0025mm,适用于各类片状材料厚度测量。

    ¥ 2570.00

    采用压力转换器感应,容量50kg/cm²,送油速度175±5mL/min(纸板),自动完成加压退压操作,测试结果自动保留并打印输出。

    ¥ 7900.00

    应用知识

    超声波测厚仪选型 探头配置与测量模式的技术考量
    这篇文章主要介绍了超声波测厚仪选型时需考虑的技术因素。探头配置方面,频率高低影响分辨率和穿透深度,晶片尺寸决定适应曲率和表面状态,双晶探头比单晶盲区更小,延迟块适用于薄壁和高温场景。
    机械测厚仪测薄膜厚度均匀性
    机械测厚仪通过接触式测量评估薄膜厚度均匀性。测量时,测头在标准压力下接触样品,将位移转换为厚度读数。
    涂层测厚仪采用磁性法与涡流法在不同基材上的选型
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种主要方法:磁性法和涡流法。选择方法时,关键要根据基材的电磁特性决定。
    涂层测厚仪在电镀层厚度检测中的应用
    涂层测厚仪用于测量电镀层厚度,主要通过电磁感应法测磁性基体上的非磁性镀层,或用涡流法测非磁性金属基体上的绝缘镀层。
    库仑测厚仪测量阳极氧化膜封孔质量
    这篇文章介绍了用库仑测厚仪测量阳极氧化膜封孔质量的方法。封孔质量会影响氧化膜的耐腐蚀和耐磨性能。库仑测厚仪通过电化学原理,测量溶解氧化膜所需的电量来评估封孔效果,结果客观可重复。
    超声波测厚仪检测厚涂层及复合涂层
    超声波测厚仪利用超声波脉冲反射原理测量涂层厚度,通过计算声波在材料中的传播时间与声速得出结果。检测厚涂层和复合涂层时,需应对材料声衰减、声速未知及多层界面信号识别等挑战。
    涡流测厚仪测量非导电基体上金属镀层
    涡流测厚仪利用电磁感应原理,通过探头线圈产生交变磁场,在金属镀层中感应涡流,从而根据线圈阻抗变化测量厚度。
    库仑法涂层测厚仪对贵金属镀层的无损测量
    库仑法涂层测厚仪通过电解溶解原理,测量溶解贵金属镀层所需的电量来计算厚度。该方法对样品整体无损,仅形成微小电解斑点。
    涂层测厚仪磁感应与电涡流双原理仪器对比
    这篇文章对比了两种涂层测厚仪的原理。选择哪种方法,关键看基体材料:是磁性金属就用磁感应,是非磁性金属就用电涡流。
    电解测厚仪在精密电镀层质量控制中的应用
    电解测厚仪通过电化学溶解原理测量镀层厚度,依据法拉第定律计算,精度高且不依赖校准。
    超声波测厚仪测量软包装材料厚度
    这篇文章介绍了超声波测厚仪测量软包装材料厚度的原理、技术要点和操作流程。它基于超声波脉冲反射原理,通过测量声波在材料中的传播时间计算厚度。
    涡流测厚仪检测非铁金属上涂层
    涡流测厚仪利用电磁感应原理,通过探头线圈产生交变磁场,在非铁金属基体表面感应出涡流。
    磁性测厚仪测量钢铁表面涂层厚度
    磁性测厚仪用于测量钢铁等铁磁性基体表面的非磁性涂层厚度,其原理基于磁感应或磁吸力变化。使用前需按相关标准校准,并注意基体特性、工件形状、表面状况等因素对测量的影响。
    涂层测厚仪测量干膜厚度的原理
    涂层测厚仪通过非破坏性方法测量干膜厚度,常用原理包括电磁感应法、涡流法和超声波法。
    涂层测厚仪零点校准与基材校准的标准操作流程
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种关键校准方法:零点校准和基材校准。操作中要注意探头垂直、压力均匀,并定期校准和记录。这些步骤能有效提升测量准确性,满足行业标准要求。