仪器商品分类

    光学雾度仪

    光学雾度仪通过平行光束照射透明材料,测量透射光中偏离原方向散射光的比例。用于量化材料雾度值,反映透明或半透明材料内部或表面因散射造成的朦胧程度。应用于塑料薄膜、玻璃、涂层等产品的透明度质量控制。
    仪器选型
    选择时关注测量范围需覆盖样品雾度值,重复性误差小于0.1%,符合ASTM D1003等标准。积分球结构确保漫射光收集完整,校准板需配备齐全。考虑样品厚度适应性和数据输出接口匹配现有系统。

    标准

    检测仪器

    支持雾度和透过率测量,雾度分辨率达0.01单位,重复性≤0.1单位,开放式测量区域可垂直操作,配备多种夹具适应不同样品形态。

    ¥ 69800.00

    采用360~780nm复合全光谱LED光源,配备256象元CMOS探测器,测量波长范围360~780nm,间隔10nm,实现雾度、透过率、色度等多种光学指标的精确测试。

    采用全光谱LED光源和光谱传感器,配备14mm和5mm双测量口径,雾度重复性≤0.03,具备开放式测量区域支持液体和大尺寸样品检测。

    ¥ 8560.00

    采用256像元双阵列CMOS图像感应器和凹面光栅分光,雾度重复性小于0.05,支持动态测量和多种观测光源,确保数据准确可靠。

    采用256像元双阵列CMOS图像感应器,实现0.01单位雾度分辨率;配备动态测量功能,实时监控环境变化确保数据可靠性;开放测量区域支持竖立卧式测试。

    采用256像元双阵列CMOS图像感应器和凹面光栅分光,雾度重复性小于0.05,支持动态测量和多种观测光源,确保数据准确可靠。

    采用256像元双阵列CMOS图像感应器和凹面光栅分光,实现高精度透射率及雾度测量,重复性小于0.05,支持多种观测光源和动态温度监控。

    采用256像元双阵列CMOS图像感应器和凹面光栅分光,雾度分辨率达0.01单位,支持动态测量和开放样品区域,适应不同厚度样品测试需求。

    采用256像元双阵列CMOS图像感应器和凹面光栅分光,雾度重复性小于0.05,支持动态测量和多种观测光源,确保数据可靠且适应不同样品测试需求。

    开放式测量区域支持垂直测量,厚度≤145mm样品兼容,雾度重复性≤0.05%,提供透过率补偿测量和丰富夹具,适应不同形态样品。

    ¥ 39800.00

    采用256像元双阵列CMOS感应器和凹面光栅分光,雾度重复性小于0.05,支持动态测量和多种色度指标,适应竖立或卧式测试。

    采用PD阵列探测器满足CIE V(λ)2度视觉响应,雾度重复性达0.15以内,开放式样品仓支持竖立卧式测试,适应不同厚度样品。

    ¥ 5500.00

    采用PD阵列探测器实现0.01单位雾度分辨率,开放式样品仓支持竖立卧式双模式测试,配备动态测量系统确保数据可靠性。

    采用PD阵列探测器实现0.01单位雾度分辨率,开放式样品仓支持竖立卧式测试,配备动态测量系统监控环境变化确保数据可靠性。

    采用PD阵列探测器和Φ8mm测量孔径,满足CIE V(λ)2度视觉响应,开放式样品仓支持竖立卧式测试,测量时间约1.5秒,雾度分辨率达0.01单位。