电脑测厚仪

具备0.01mm高分辨率和0.05mm示值精度，采用32位ARM处理器确保快速计算，测头速度可调并支持自动测量数据保存，热敏打印机实现无声高速打印。

具备0.001mm高分辨率和±0.0025mm示值误差，采用32位ARM处理器确保测量快速准确，测头速度可调并支持自动数据统计和热敏打印。

专用于涂层测厚仪校准，确保厚度测量准确，适用于F型设备，提升检测可靠性。

采用磁感应原理，测量范围0~1250μm，适配leeb220和leeb222涂层测厚仪，耐磨性好，适用于多种非磁性涂层厚度检测。

提供专业校准服务确保测量精度，适用于质量控制和设备维护，需与涂层测厚仪一同购买。

采用合金一体化探头，测量范围0-2000μm，误差±3%，具备连续和单次两种测试模式，可存储2000组数据并支持电脑连接通信。

手持式设计便于携带，测量精度达0.01mm，接触压力20±2kpa，可连接电脑绘制数据曲线，适用于薄膜、金属片等多种材料厚度检测。

采用合金一体化探头，测量范围0-1500μm，误差±(3%+1.5μm)，具备连续和单次测量模式，可存储2000组数据并支持电脑通信。

具有发射-回波和回波-回波两种测厚模式，测量范围0.65~600mm，可自动识别探头类型并进行零点校准，支持反测声速功能以提高精度。

采用超声波原理测量厚度，测量范围0.8~300mm，精度最高达±0.04mm，支持高速测量10次/秒，便携设计适合野外现场使用。

测量铁质金属上非磁性涂层，厚度范围0-6000μm，精度±3%，内置探头单手操作，防护等级IP65，每分钟60多个读数。

配备专用上位机软件实现数据储存分析，支持峰值模式和自动计时功能，测量范围20-90HC，分辨率0.1HC，具有多种坐标曲线显示和合格判断能力。

测量范围1.2~225mm，支持声速测定和12笔数据存储功能，具备上下限报警设定和耦合状态提示，适用于多种材料厚度检测。

符合ISO2808-1974标准，量程0~150μm，精度不大于5μm，可测定湿膜厚度并估计干膜厚度，适用于实验室和生产控制。

采用微处理器技术实现0.7-400mm厚度测量，分辨率为±0.01mm，支持五种探头选配，具备自动关机和背光显示功能。