统计型测厚仪

采用磁感应和电涡流双原理，测量范围0~1250μm，分辨率达0.1μm，配备耐磨硬质金属探针，支持99组数据存储和统计计算功能。

采用磁感应和电涡流原理，测量范围0~1250µm，分辨率达0.1µm，可存储99组数据并支持统计功能，具备耐磨探头和自动校准。

采用磁感应和电涡流原理，测量精度±1-3%，可存储99组数据并实现统计功能，具有耐磨硬质金属探针和自动校准记忆，支持单次和连续测量模式。

采用磁感应和电涡流原理，测量范围0~1250μm，分辨率0.1μm，可存储99组数据并支持USB和蓝牙传输，配备耐磨硬质金属探针。

采用磁性测厚原理，测量范围0~1250μm，误差±3%，可存储116个数据，支持连续测试和统计功能，适用于各种涂层环境，操作稳定可靠。

采用磁感应和电涡流双原理，测量范围0-2000μm，分辨率达0.1μm，具备自动基体识别和99组数据存储统计功能，支持曲面和最小面积测量。

采用分体探头设计，测量范围0~13000μm，误差±3%，具备统计功能和图示显示，每分钟可读取180多个数据点，防护等级IP65。

专用于涂层测厚仪校准，确保厚度测量准确，适用于F型设备，提升检测可靠性。

采用磁感应原理，测量范围0~1250μm，适配leeb220和leeb222涂层测厚仪，耐磨性好，适用于多种非磁性涂层厚度检测。

测量厚度达25mm，误差仅±3%，采用可移动FJS探头，适用于厚保护涂层基材，具备统计功能和250000个数据存储能力。

具备0.01mm高分辨率和0.05mm示值精度，采用32位ARM处理器确保快速计算，测头速度可调并支持自动测量数据保存，热敏打印机实现无声高速打印。

采用涡流测厚方法，测量范围0-1250μm，误差±3%，具有连续和单次两种测量模式，支持1560个数据存储和多种统计功能。

采用磁感应和电涡流原理，测量范围0~1250μm，误差±3%，支持蓝牙传输和自动识别基体材质，适合单手操作。

采用磁性和涡流两种测厚方法，测量范围0-1250μm，具备自动识别铁基与非铁基体功能，支持单点和两点校准，具有电源欠压指示和统计功能。

测量范围0~1250微米，误差±1~3%，具有连续和单次测量模式，可存储2000个数据，支持多种校准方式和统计功能，操作便捷灵敏。