采用LED光源和45/0照测条件，测量范围0~199.9，分辨率0.1，可检测荧光增白剂并测定增白度，重复性≤0.3。
采用457nm蓝光波长测量漫反射因数，重复性达0.2，可检测荧光增白剂并计算荧光白度值，适用于多种材料表面白度分析。
采用斜式标准看台和标准日光灯照射，工作台尺寸270*270mm可旋转，通过目视标记圈出试样上尘埃，用标准尘埃对比图鉴定尘埃面积大小，符合GB/T1541等标准要求。
采用45°/0°照明方式，测量面积约Φ10mm，重复性标准偏差在ΔE*ab 0.5内，支持多种色彩空间显示和统计功能，轻便易用。
采用45°/0°照明方式，测量口径Φ10mm，重复性标准偏差在∆E*ab 0.5内，支持多种颜色空间显示和统计功能，自动记忆99组数据。
采用双40阵列传感器和D/8结构，支持SCI/SCE同时测量，测试时间约3.2秒，重复性ΔE*ab控制在0.02以内，适用于荧光样品和多种颜色空间分析。
采用45/0环形照明几何结构，配备Φ8mm和Φ4mm双测量口径，色度值重复性ΔE*ab 0.03以内，支持荧光样品测量及多种色差公式计算。
采用45/0光学结构和256像元双阵列CMOS感应器，重复性ΔE*ab控制在0.02以内，支持多种测量口径和荧光样品，确保颜色数据准确稳定。
采用d/0照测条件，测量范围0~199.9，可测定薄页材料不透明度，具有全自动校准和数据存储功能，稳定性和复现性高，消除系统漂移误差。
采用D/8照明系统，台间差ΔE*00<0.2，配备非接触式自动白板校验技术，确保测量准确性，锂电池支持12000次连续测试。
采用表面覆膜设计，厚度0.29mm，无荧光增白剂，具备耐溶剂性和耐化学性，覆膜均匀且带有注释部分便于记录测试信息。
