磁阻法厚度计

采用磁性测厚方法，测量范围0-1250μm，误差±3%，具备连续和单次两种测量模式，可存储1560个测量数据，支持多种校准方式。

专用于涂层测厚仪校准，确保厚度测量准确，适用于F型设备，提升检测可靠性。

采用涡流测厚方法，测量范围0-1250μm，误差±3%，具有连续和单次两种测量模式，支持1560个数据存储和多种统计功能。

采用机械测量法，测量范围0~1mm，精度≤0.005mm，分度值0.001mm，提供两种测头压力选择，适应不同测试需求。

采用磁感应原理，测量范围0~1250μm，适配leeb220和leeb222涂层测厚仪，耐磨性好，适用于多种非磁性涂层厚度检测。

采用机械测量法，测量范围0~1mm，精度≤0.005mm，分度值0.001mm，测头直径Φ5mm，适用于平面薄膜和薄片，提供两种测头压力选择。

提供专业校准服务确保测量精度，适用于质量控制和设备维护，需与涂层测厚仪一同购买。

采用磁性和涡流两种测厚方法，测量范围0-1250μm，具备自动识别铁基与非铁基体功能，支持单点和两点校准，具有电源欠压指示和统计功能。

采用多频管中电流法实现非开挖检测，测量范围0-12mm，精确度达1-3%，支持自动识别基体材质和连续测量模式，适用于管道防腐层缺陷定位。

采用磁性法测量原理，厚度范围0-3000μm，误差±3%，具有分体探头结构，支持单次和连续测量模式，配备RS-232C接口。

采用磁性测厚方法，测量范围0-1250μm，支持五种测头类型，具有零点校准和连续测量功能，配备USB接口实现数据传输。

采用磁感应和涡流双方法自动识别基材，测量精度±2μm/2%，具备一键校准功能，可在粗糙或弯曲表面实现精准测量，内置在线统计实时显示数据波动。

测量范围0~1250微米，误差±1~3%，具有连续和单次测量模式，可存储2000个数据，支持多种校准方式和统计功能，操作便捷灵敏。

采用磁感应测量方法，量程0~5mm，误差±5%，可测量多种非铁磁性涂层，适用于不同曲率基体表面。

采用光热法实现非接触无损测量，测量范围0-300μm，精准度±3%，可测量任意形状样品包括边框和边缘部位。