采用45/0光学结构和256像元双阵列CMOS感应器,重复性ΔE*ab控制在0.02以内,支持多种测量口径和荧光样品,确保颜色数据准确稳定。
具备15°、45°、110°三角度测量功能,可同时获取颜色数据、闪烁和颗粒等级;内置自动白校准,无需人为干预;采用稳定长寿命LED光源,使用寿命长达10年。
采用45/0环形照明几何结构,配备Φ8mm和Φ4mm双测量口径,色度值重复性ΔE*ab 0.03以内,支持荧光样品测量及多种色差公式计算。
采用45/0几何光学结构,配备256像元双阵列CMOS探测器,色度值重复性ΔE*ab 0.05以内,支持多种色差公式和颜色指数测量。
采用256像元双阵列CMOS感应器和平面光栅分光技术,测量重复性ΔE*ab控制在0.02以内,支持荧光样品测量和自定义容差设置。
采用45/0几何光学结构,重复精度ΔE*ab 0.04,台间差ΔE*ab 0.2,配备超大积分球和3.5英寸触摸屏,支持光谱反射率曲线显示和配色功能。
采用圆轨迹划针设计,配备4种不同半径划针(R0.25/0.5/1.0/1.5mm),轨迹周期为24h/r,可精确测定漆膜和腻子膜的干燥过程。
具备透漆测量能力,无需去除涂层即可准确测量壁厚,厚度量程2.5~125mm,精度±0.03mm,支持多回波和单回波模式切换,适用于不同表面状况的检测需求。
采用D/0几何光学结构和全光谱LED光源,覆盖360-780nm波长,重复性色度值0.015以内,支持多元光源模拟和丰富色度指标,确保测量稳定性和准确性。
采用进口高性能长寿命光源和窄带滤光系统,光学稳定性强,精度高,重现性≤±2%,可保存10条标准曲线及500个测定值,断电不丢失。