光学涂膜机

采用漫透射光路设计，光密度测量范围0.00-6.00 OD，透光率精度±2%，可同时测量透光率、绝对光密度、相对光密度和网点面积率。

宽度2cm，光程10mm，外形尺寸12.5×22.5×45mm，专为分光光度计设计的配套比色皿，确保光学检测精度。

宽度3cm，光程10mm，外形尺寸12.5×32.5×45mm，作为分光光度计专用配件，确保光路稳定和测量准确性。

三合一光路设计可同时测量蓝光430nm、紫光395nm和可见光透过率，测试孔径Φ1mm适应大厚度材料，具备实时动态自校准功能确保数据精准。

宽度为5cm，光程10mm，外形尺寸12.5×52.5×45mm，适用于分光光度计配套使用，确保光学检测精度。

采用光电检测及微机伺服系统，灵敏度高，最小读数±0.005°，重复性≤0.007°，可测透过率≥10%的低旋光度样品，无读数人差。

采用双光束反馈光学系统实时补偿光源波动，光谱反射率重复性标准偏差0.1%以内，器间差ΔE*ab高达0.08，无需UV校正即可准确测量荧光材料。

采用光学荧光法无需参比溶液，内置温度传感器实时校准数据，双量程设计覆盖0~20mg/L与0~200%饱和度，10米长线缆支持深水或远距离安装，聚甲醛与不锈钢复合结构增强环境适应性。

采用漫透射测量原理，光密度测量范围达6.000 OD，精度±0.02 OD，配备固定座和支架，支持两种测量方式，适用于半透明材料测试。

采用无限远光学系统，配备40X-1000X放大范围和N.A.1.25阿贝聚光镜，支持数字化观察和多种辅助设备扩展。

采用无限远光学系统，支持多种观察方式，配备六孔物镜转换器和N.A.1.1阿贝聚光镜，放大倍数40X-1000X，操作简便灵活。

采用寿命超十万小时的LED冷光源，测量范围达±89°旋光度，支持旋光度、比旋度、浓度和糖度多种测量，准确度±0.01°，重复性标准偏差0.002°，全自动操作方便集成。

采用无限远光学系统，提供清晰成像；超长工作距离聚光系统达70mm，支持高培养皿观察；紧凑稳定主体设计，有效防振。

采用光电检测和刻度盘自动示数，测量范围±45°，最小读数0.001°，对低旋光度样品也能准确分析，操作简便。

采用无限远光学系统及模块化设计，配置无应力长工作距离平场物镜，微动格值2μm，旋转载物台带360°刻度，支持偏光观察装置灵活移入移出光路。