测厚仪金属厚度计

采用磁感应原理，测量范围0~1250μm，适配leeb220和leeb222涂层测厚仪，耐磨性好，适用于多种非磁性涂层厚度检测。

专用于涂层测厚仪校准，确保厚度测量准确，适用于F型设备，提升检测可靠性。

采用磁感应测厚原理，测量范围0~1250微米，适配leeb242机型，可连接打印机输出数据，适用于磁性金属基体上的非磁性涂层厚度检测。

采用可拆卸内置探头设计，支持单手操作，测量范围0~13mm，精度±3%，适用于不同金属底材的涂层厚度检测。

采用磁感应原理实现0~1250μm测量范围，具备±3%误差精度和0.1μm分辨率，支持单次连续两种测量模式，配备耐磨金属探针确保测量稳定性。

采用电涡流原理，测量范围0~1250微米，配备热敏打印机可实时打印测试数据，适用于多种非磁性金属基体上的绝缘覆盖层厚度检测。

采用电涡流原理测量非铁金属基材上非导电涂层，厚度范围0~625μm，误差±3%，具备IP65防护等级和每分钟60多个读数的快速测量能力。

测量厚度达63.5毫米，精度为±3%，可测量磁性和非磁性金属底材上的非导电涂层，配备编织不锈钢电缆防扭耐磨。

采用三刀刃设计，测量范围为5-500μm，配备LED照明显微镜和旋转系统，可精确评估涂层厚度和基材缺陷。

采用进口金属小测头，测量范围0~1250微米，最小基体0.3mm，具有连续测试、数据存储和多种校准模式，操作便捷且精度高。

采用微处理器技术实现0.7-400mm厚度测量，分辨率为±0.01mm，支持五种探头选配，具备自动关机和背光显示功能。

具备0.01mm高分辨率和0.65-400mm宽测量范围，支持探头自动识别和多种测量模式，可穿透涂层测量基体厚度并实现数据冻结显示。

采用磁感应原理测量，厚度范围0~1000μm，误差±3%，具备低电压提示功能，支持分体探头和定制量程，适应不同曲率基体测量需求。

采用高速ADC数据采集，分辨率达1μm，可同时测量多层涂层或涂层加基材厚度，具有增益自动切换和预估厚度设置功能，测量范围13~1000μm（环氧树脂涂层）。

采用回波-回波技术实现0.15mm超薄件测量，分辨率达0.001mm，可穿透0.5mm涂层测量基材厚度，支持声速校准和差值模式设置。