三合一光路设计可同时测量蓝光430nm、紫光395nm和可见光透过率，测试孔径Φ1mm适应大厚度材料，具备实时动态自校准功能确保数据精准。
三合一光路一次测量三种波长透过率，测试孔径1mm适应小尺寸材料，平行光设计确保厚材料测量稳定，精度达±2%且分辨率0.1%。
采用三合一光路设计，一次对孔可同时测量三种波长透过率。配备1mm测试孔径和自动校准功能，支持850nm/940nm红外及550nm可见光测量，精度达±2%。
采用三合一平行光路设计，一次测量可见光、红外和紫外透过率；测试孔径1.3mm，适合小尺寸和厚材料；具有自动校准和大容量存储功能。
采用平行光路设计，支持47mm厚度材料测试，可同时测量紫外线365nm、红外线940nm及可见光透过率，具备实时自校准功能，操作简单快速显示三项结果。
三光源共用一个测试孔，一次测量即可获得380nm-760nm可见光、940nm红外线和365nm紫外线透过率。平行光设计可测试大厚度材料，1mm测试孔径适合小尺寸样品。
采用双光路传感阵列和紫外增强硅光电二极管，分辨率0.0001，透射率测量范围0-200%，支持APHA/PtCo、Gardner和Saybolt色度标尺，确保高重复性和准确性。
三合一光路设计可同时测量四组数据，测试孔径1.3mm支持小尺寸材料检测，具有自动校准和大容量存储功能，测量精度达±2%确保结果稳定可靠。
采用光电检测及微机伺服系统，灵敏度高，最小读数±0.005°，重复性≤0.007°，可测透过率≥10%的低旋光度样品，无读数人差。
采用360~780nm复合全光谱LED光源，配备256象元CMOS探测器，测量波长范围360~780nm，间隔10nm，实现雾度、透过率、色度等多种光学指标的精确测试。
采用进口光学元件，测量范围0.0-99.9%，精度≤2%，具备单次和连续两种测量模式，支持最大值、最小值、平均值统计，可存储800组数据并连接电脑通信。
最小测试孔径0.5mm，三光源共用一个测试孔，一次对孔可获取550nm、850nm、940nm三种透过率数据，实时动态自校准功能，测试精度±2%。
开放式测量区域支持垂直测量，厚度≤145mm样品兼容，雾度重复性≤0.05%，提供透过率补偿测量和丰富夹具，适应不同形态样品。
超小型便携设计可放入口袋，配备保护胶套防跌落；使用一节5号电池可连续测量数万组数据，即开即测无需等待；采用特殊微电脑控制消除外界光干扰，确保0.1%分辨率的高精度测量。
采用漫透射光路设计，光密度测量范围0.00-6.00 OD，透光率精度±2%，可同时测量透光率、绝对光密度、相对光密度和网点面积率。
