仪器商品分类

    光栅式分光测色仪

    光栅式分光测色仪通过衍射光栅将光线色散成光谱,传感器测量各波长反射率,计算物体颜色数据。用于涂料、塑料等行业颜色质量控制,匹配标准色差。
    仪器选型
    选择光栅式分光测色仪需考虑测量孔径匹配样品尺寸,光谱范围覆盖应用需求,仪器重复性满足公差要求,配套软件功能适配工作流程,维护成本符合预算。
    类型
    测量方式
    测量口径
    光源
    积分球
    色度值重复性
    测量形状
    软件
    特殊功能

    检测仪器

    含360种内外墙哑光色彩,色号以8开头从8001至8360,配有完整水性涂料配方及色彩调控系统,置于特制U形盒保护。

    采用1000线精密闪耀光栅和硅光电池阵列探测器,光学分辨率小于10nm,可同时测量样品SCI和SCE光谱数据,配备摄像头定位和稳定片平台确保测量精准。

    采用凹面光栅分光方式,配备256像元双阵列CMOS探测器,测量时间约1.5秒,色度值重复性ΔE*ab 0.05以内,支持多种色差公式和颜色指数测量。

    包含240种内外墙哑光色彩,以氧化铁外墙颜色为主,提供完整水性涂料配方,尺寸150mm*50mm*15mm,共60页,每页4个色块,便于调配和控制。

    ¥ 39.00

    一体设计可同时测量粗糙度、波纹度和轮廓度,无需更换测头;采用高精度光栅系统,X轴定位光栅分辨率达0.1μm,配备精密直线导轨确保测量稳定性。

    ¥ 75050.00

    采用45/0几何光学结构和凹面光栅分光,测量口径可定制至Φ2/4/8mm,反射率测定范围0~200%,色度值重复性ΔE*ab 0.05以内,适用于多种样品准确颜色传递和配色。

    支持铁基和非铁基材料测量,精度达±1~3%或±2.5µm,提供分体式探头增强机动性,自动识别基体材质和记忆校准值。

    ¥ 2810.00

    采用45/0几何光学结构,配备Φ20mm测量口径和凹面光栅分光,可准确测量反射率及色度数据,具有高稳定性和重复性,适合条纹或颗粒状样品。

    采用凹面光栅分光方式,配备256像元双阵列CMOS探测器,测量时间约1.5秒,色度值重复性ΔE*ab 0.03以内,支持荧光样品测量和多行业应用。

    采用单光束光栅系统,波长范围340~1000nm,光谱带宽4nm,密封式光栅单色器设计提升稳定性和测光精度,自动调0%和100%功能简化操作。

    ¥ 1220.00

    具备铁基和非铁基两用功能,分辨率达0.1um,测试范围0~1250um,支持单次和连续测量,自动识别基体材质,操作稳定且便携。

    ¥ 1750.00

    采用单光束光栅系统,波长范围340~1000nm,光谱带宽4nm,具备自动调零和调100%功能,密封式光栅单色器防霉设计,提升稳定性和测光精度。

    ¥ 1680.00

    采用1000线精密闪耀光栅和硅光电池阵列,光学分辨率小于10nm,可同时测量SCI/SCE光谱,重复性ΔE*ab 0.03以内,支持双口径切换和摄像头定位。

    采用电动压力系统,印刷压力0-2mm可调,速度范围0-80米,支持低精度套印,电脑程序控制运行稳定。

    ¥ 36200.00

    扇形哑光设计含1188种标准色彩,符合国家标准GB/T15608-2006,提供完整水性涂料配方系统和色浆配方表,色彩细分为七大系列。

    ¥ 199.00