仪器商品分类

    金镍测厚仪

    金镍测厚仪通过X射线荧光原理,测量镀层中金和镍元素的特征X射线强度,换算成厚度值。用于检测电子元器件、连接器等表面镀层厚度,控制电镀工艺质量。

    检测仪器

    可测量多种金属镀层及合金镀层,测量范围0~300μm,分辨率达0.01μm,支持多层镍电位差分析,测试尺寸可选φ2.4mm至φ0.8mm。

    ¥ 18000.00

    采用大水槽设计降低浮力误差,可测试镀膜厚度>30μm的巴西火烧金,密度精度达0.0001g/cm³,支持多种贵金属混合比分析。

    ¥ 2660.00

    测量范围0.03~50μm,分辨率0.01μm,支持单层、多层及合金镀层测试,内置热敏打印机自动输出统计报告,适用于线材及柱状工件。

    ¥ 8000.00

    采用大水槽设计降低浮力误差,密度精度达0.001g/cm³,可测试镀膜厚度>30μm的巴西火烧金,支持多种贵金属混合比测定。

    ¥ 2410.00

    采用分光光度法检测镍浓度,检测下限0.1mg/L,配备进口冷光源寿命达10万小时,支持多种测量模式和无线数据传输功能。

    ¥ 4600.00

    测量范围0.03-50um,分辨率0.01um,支持多层镀层和合金镀层测量,配备自定义热键和液晶显示屏,操作简便无需调整灵敏度。

    ¥ 7200.00

    采用分光光度法检测镍含量,测量范围0.00-7.00g/L,精度±0.10g/L,配备LED@575nm光源,操作简便无需复杂预处理,适用于快速批量检测需求。

    ¥ 880.00

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    采用磁感应原理,测量范围0~1250μm,适配leeb220和leeb222涂层测厚仪,耐磨性好,适用于多种非磁性涂层厚度检测。

    采用预先测量设计实现快速比色分析,与镍反应生成蓝色复合物,测量范围覆盖0.00~7.00 g/L,适配多种光度计仪器。

    ¥ 2890.00

    密度精度达0.001g/cm³,最大称量310g,内置多种密度参照可自定义设置,支持固体液体粉末及吸水性样品测试,配备水平指示器和过载报警功能。

    ¥ 2800.00

    采用吊水法原理,测量精度达0.001g/cm³,支持温度补偿和混合比重测定,可循环显示K数和纯度%,具备超限提示功能,操作仅需两步。

    ¥ 1640.00

    采用吊水法原理,测量范围5-600g,密度精度0.001g/cm³,具有温度补偿和混合比测定功能,测试后不留痕迹。

    ¥ 1890.00

    采用吊水法测量原理,密度精度达0.001g/cm³,支持一键清零和温度补偿功能,可循环显示K数和纯度百分比,并具备混合比重测定及超限提示功能。

    ¥ 2280.00

    提供专业校准服务确保测量精度,适用于质量控制和设备维护,需与涂层测厚仪一同购买。

    ¥ 500.00

    应用知识