仪器商品分类

    理化测厚仪

    理化测厚仪通过探头接触或非接触方式测量材料厚度,利用电磁感应、超声波或涡流原理获取数据。用于检测涂层、薄膜、板材等材料的厚度均匀性,在质检和生产控制中确保产品符合规格要求。
    仪器选型
    选择时考虑测量材料类型,金属用涡流仪,非金属用超声波仪。根据厚度范围选量程,平整表面用接触式,柔软材料用非接触式。环境因素如温度湿度影响精度,需匹配探头尺寸与测量区域。操作简便性和校准便利性也需评估。

    术语

    标准

    检测仪器

    采用薄膜层压技术,具备出色耐溶剂和耐化学性,纸张厚度0.29mm且无荧光增白剂,确保涂布均匀性和测试准确性。

    ¥ 1968.00

    采用薄膜层压技术,具备0.29mm纸张厚度和表面覆膜,提供均匀薄膜涂布和耐溶剂耐化学性,便于遮盖力、不透明度测试。

    ¥ 3374.00

    采用薄膜层压技术,具备出色耐溶剂和耐化学性,纸张厚度0.29mm且无荧光增白剂,确保测试结果准确可靠。

    ¥ 3482.00

    采用薄膜层压工艺,具备耐溶剂性和耐化学性,纸张厚度0.29mm,表面覆膜确保涂布均匀性,带有注释部分便于记录测试信息。

    ¥ 1055.00

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    采用薄膜层压技术,具备出色的耐溶剂和耐化学性,确保均匀的薄膜涂布,纸张厚度0.29mm,表面覆膜增强耐用性,适用于多种测试环境。

    ¥ 2290.00

    采用磁感应原理,测量范围0~1250μm,适配leeb220和leeb222涂层测厚仪,耐磨性好,适用于多种非磁性涂层厚度检测。

    采用薄膜层压处理,具备优异耐溶剂和耐化学性,纸张厚度0.29mm且表面覆膜,确保涂布均匀性和测试准确性。

    ¥ 3482.00

    可同时测量休止角、振实密度等10余项物性参数,振实频率300转/分钟,重复性误差≤3%,支持多种国家标准测试方法,满足粉体综合特性分析需求。

    ¥ 33800.00

    采用薄膜层压技术,具备优异耐溶剂和耐化学性,纸张厚度0.29mm且无荧光增白剂,确保涂布均匀性并带有注释部分便于记录。

    ¥ 2698.00

    测定湿膜在垂直状态下流动变厚情况,控制涂料物理性能选择合适湿膜厚度,确保均匀膜厚,厚度范围450-675μm,符合GB/T 9264和ASTM D 3730标准。

    ¥ 450.00

    产水速率达5L/h,取水流速0.8L/min,支持RO膜智能防垢冲洗和自动内循环系统,确保超纯水水质稳定,适用于多种实验需求。

    ¥ 11300.00

    具有发射-回波和回波-回波两种测厚模式,测量范围0.65~600mm,可自动识别探头类型并进行零点校准,支持反测声速功能以提高精度。

    ¥ 3680.00

    提供专业校准服务确保测量精度,适用于质量控制和设备维护,需与涂层测厚仪一同购买。

    ¥ 500.00

    测量范围0-20mm,精度≤0.02mm,测头直径Φ6mm,指针式读数分度值0.01mm,压力22kPa±5kPa,符合化工行业标准。

    ¥ 1450.00

    应用知识