仪器商品分类

    红外成像仪

    红外成像仪通过接收物体表面散发的红外辐射,将其转换为温度分布图像。用于检测设备发热异常、建筑保温缺陷、电路故障定位等场景,帮助发现肉眼不可见的温度差异。

    检测仪器

    测量范围0-40000W/m²,光谱响应1000-1700nm,可自动计算并显示红外阻隔率,感光孔径10mm,适用于多种红外光源和隔热材料的性能测试。

    ¥ 470.00

    采用花岗石结构确保稳定性,测量精度达(3+L/200)μm,重复性0.002mm,配备高分辨率CCD和可调LED光源,避免工件变形。

    ¥ 58340.00

    采用全大理石结构确保稳定性,测量精度达(3+L/200)μm,配备高分辨率CCD和可调LED光源,避免工件热变形。

    ¥ 79250.00

    采用不分光红外NDIR传感器,量程0~1000ppm,响应时间≤15秒,支持多种信号输出和远程传输,具备过压保护和自动恢复功能。

    ¥ 15000.00

    采用不分光红外NDIR传感器,响应时间≤15s,检测精度≤±2%,支持PPM、%VOL、mg/m³单位切换,具备过压保护和自动恢复功能。

    ¥ 15000.00

    采用不分光红外NDIR传感器,响应时间≤15s,精度≤±2%,支持多种信号输出和远程传输,具备过压、防雷等保护功能,确保稳定可靠监测。

    ¥ 14220.00

    采用全大理石结构确保稳定性,测量精度达(3+L/200)μm,配备可调LED光源避免工件热变形,支持Z轴影像测高或接触式测量。

    ¥ 19510.00

    采用远红外辐射加热技术,控温范围RT+~300℃,温度波动度±2℃,配备热敏电阻控测温仪,快速低耗调节方便。

    ¥ 2689.00

    采用远红外辐射加热技术,控温精度±2℃,配备热敏电阻控测温仪,实现快速低耗干燥,工作室尺寸320*380*320mm。

    ¥ 1969.00

    采用全大理石结构确保稳定性和刚性,测量精度达(3+L/200)μm,配备可调LED环形光源避免工件热变形,支持手动操作和多种配件选配。

    ¥ 16530.00

    采用红外光谱测量技术,测温范围覆盖-18至1150℃,精度达±2%,具备20:1物距比和500ms快速响应,支持数据存储和USB连接功能。

    ¥ 495.00

    采用远红外辐射加热技术,配备热敏电阻控测温仪,控温范围RT+~300℃,温度波动度±2℃,具有快速干燥和低能耗特点,适用于多种样品处理。

    ¥ 3179.00

    采用全大理石结构确保稳定性,测量精度达(3+L/200)μm,配备可调LED光源避免工件热变形,支持Z轴影像测高或探针测量。

    ¥ 26980.00

    采用远红外辐射加热技术,控温范围RT+~300℃,温度波动±2℃,配备热敏电阻控测温仪,具有快速、低耗、调节方便等优点,适用于多种样品的干燥。

    ¥ 2429.00

    采用远红外辐射加热技术,控温范围RT+~300℃,温度波动度±2℃,配备不锈钢内胆,加热快速均匀,适用于多种样品干燥。

    ¥ 3819.00