支持雾度和透过率测量，雾度分辨率达0.01单位，重复性≤0.1单位，开放式测量区域可垂直操作，配备多种夹具适应不同样品形态。
采用PD阵列探测器满足CIE V(λ)2度视觉响应，雾度重复性达0.15以内，开放式样品仓支持竖立卧式测试，适应不同厚度样品。
采用256像元双阵列CMOS图像感应器和凹面光栅分光，雾度重复性小于0.05，支持动态测量和多种观测光源，确保数据可靠且适应不同样品测试需求。
采用256像元双阵列CMOS图像感应器，实现0.01单位雾度分辨率；配备动态测量功能，实时监控环境变化确保数据可靠性；开放测量区域支持竖立卧式测试。
采用平行照明半球散射积分球光电接收系统，透光率雾度精度均达0.01%，具备A/C/D65三种光源和立卧两用观测模式，支持USB接口数据导出，LED光源寿命长启动快。
开放式测量区域支持垂直测量，厚度≤145mm样品兼容，雾度重复性≤0.05%，提供透过率补偿测量和丰富夹具，适应不同形态样品。
采用360~780nm复合全光谱LED光源，配备256象元CMOS探测器，测量波长范围360~780nm，间隔10nm，实现雾度、透过率、色度等多种光学指标的精确测试。
采用PD阵列探测器满足CIE V(λ)2度视觉响应，雾度重复性小于0.1，开放式样品仓支持竖立卧式测试，适应厚度小于170mm的多样品。
