仪器商品分类

    片材测厚仪

    片材测厚仪通过接触或非接触传感器测量材料厚度。原理基于机械探针位移或超声波/激光反射,作用为监控生产厚度均匀性。应用于塑料薄膜、纸张、金属片材等工业质量控制。

    检测仪器

    测量范围0-20mm,精度0.001mm,接触压力20±5kPa,适用于纸张、纸板及片状材料厚度检测,符合多项国际标准。

    ¥ 2030.00

    测量范围0~12.7mm,分辨率达0.001mm,接触压力20±0.5Kpa确保测量稳定性,适用于各类薄片材料厚度检测。

    ¥ 2910.00

    采用机械测量法,测量范围0~1mm,精度≤0.005mm,分度值0.001mm,测头直径Φ5mm,适用于平面薄膜和薄片,提供两种测头压力选择。

    ¥ 1200.00

    测量范围0-20mm,精度达0.001mm,接触压力20±5kPa,适用于松紧度不同的片状材料,满足多项国际标准要求。

    ¥ 2260.00

    测量范围0-4mm,接触压力100±10kPa,接触面积200mm²,具备高精度示值误差±0.0025mm,适用于各类片状材料厚度测量。

    ¥ 2570.00

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    采用磁感应原理,测量范围0~1250μm,适配leeb220和leeb222涂层测厚仪,耐磨性好,适用于多种非磁性涂层厚度检测。

    测量范围0-20mm,精度0.01mm,接触压力20±0.5kPa,接触面直径35.7mm,适用于多种片状材料厚度检测,确保高平行度和准确度。

    ¥ 2600.00

    测量范围0~20mm,精度达0.001mm,接触压力20±5kpa,适用于具有一定松紧度的片状材料厚度检测。

    ¥ 2270.00

    测量范围0-4mm,分辨率达0.001mm,接触压力100±10kPa,测量面平行度≤0.002mm,确保厚度测量准确可靠。

    ¥ 3310.00

    测量范围0-6mm,精度达0.01mm,接触压力100±5kpa,具备数显功能和稳定平行度测量,适用于多种材料厚度检测。

    ¥ 1910.00

    采用机械测量法,测量范围0~1mm,精度≤0.005mm,分度值0.001mm,提供两种测头压力选择,适应不同测试需求。

    ¥ 1200.00

    采用接触测量法原理,测量范围0-4mm,接触压力100kPa,配备百分表指示机构,可实现精确厚度检测,适用于多种片状材料。

    ¥ 2860.00

    测量范围0-4mm,分辨率0.001mm,接触压力100±10kPa,测量面平行度≤0.0005mm,符合多项国际标准,适用于各种片状材料厚度精确测定。

    ¥ 2340.00

    最大测量值500N,适用于片状、块状材料推拉力及破坏力测试,可与推拉力计测试架配合使用。

    ¥ 350.00

    应用知识