仪器商品分类

    薄片厚度计

    薄片厚度计通过接触或非接触方式测量材料厚度。接触式使用探针压触样品,非接触式采用光学或超声波反射原理。用于检测薄膜、涂层、纸张等材料的厚度均匀性,确保生产质量稳定。
    仪器选型
    选择薄片厚度计需考虑材料特性,软质材料适用非接触式。根据精度需求选传感器分辨率,量程需覆盖样品厚度范围。环境因素如温度振动影响测量稳定性,操作便捷性和数据输出功能满足实际使用需要。

    术语

    标准

    检测仪器

    采用回波-回波技术实现0.15mm超薄件测量,分辨率达0.001mm,可穿透0.5mm涂层测量基材厚度,支持声速校准和差值模式设置。

    压针行程0-1.25mm,测量误差±1HAM,压针端部压力324-764mN,适用于厚度1.5mm以上薄橡胶试样,可配合定负荷测定架使用。

    ¥ 6500.00

    压针行程0-1.25mm,测量误差±1HAM,适用于厚度1.5mm以上薄橡胶样品,灵敏度高,需配合定负荷测定架使用确保准确度。

    ¥ 5250.00

    采用7.5MHz高频探头,测量范围0.7~50mm,适用于薄壁及小弧面工件,管材测量下限达Φ25*1.2mm,适应性强。

    ¥ 1100.00

    采用杂波飞渡技术实现0.15mm超薄件测量,最高分辨率达0.001mm,支持穿越涂层测量和蓝牙通信,具备语音播报和LED背光功能。

    频率10MHz,测量范围0.65~20mm,适用于薄壁及小弧面工件,管材测量下限Φ10*1.0mm。

    ¥ 1600.00

    采用杂波飞渡技术实现超薄件测量,最小厚度达0.15mm,最高分辨率0.001mm,具备两种测量模式和穿越涂层测量功能,配备15MHz单晶延迟探头。

    ¥ 6850.00

    采用磁感应原理,测量范围0.0~500μm,误差±(0.3μm+2%),超小测头适合钉子、螺栓等小工件薄镀层测量,具有多点校准和统计功能,确保高重复性和稳定性。

    ¥ 5160.00

    冲击能量3N,冲击装置质量75g,适用于测量小的或轻薄的试件及表面硬化层,可测量最小厚度1mm和最小硬化层深度0.2mm。

    ¥ 4280.00

    冲击能量2.7mJ,冲击装置质量75g,对被测表面损伤小,不破坏硬化层,适合测量小轻薄部件,试件最小厚度1mm,硬化层最小深度0.2mm。

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    采用磁感应原理,测量范围0~1250μm,适配leeb220和leeb222涂层测厚仪,耐磨性好,适用于多种非磁性涂层厚度检测。

    采用挤压工艺和镀铬表面,湿膜厚度可低至1.5μm,凹槽设计宽大提升涂布量,解决了传统钢丝松脱、清洗困难问题,实现稳定超薄涂布。

    无需电池供电,采用稀土钴磁钢持久磁性,测量范围0~200微米,精度±1µm(20µm内),带有声音提示和耐磨硬质合金探头。

    ¥ 2420.00

    采用电涡流原理实现非接触测量,测量范围0~1250μm,误差仅±3%,支持最小F5mm测量面和0.3mm薄基体检测,适用于各类非导电涂层厚度分析。

    ¥ 520.00

    应用知识