仪器商品分类

    立式测厚仪

    立式测厚仪通过垂直放置的传感器接触材料表面,测量探头与基座间距离得出厚度。用于检测薄膜、纸张、金属片等平整材料的厚度均匀性,在生产和质检中控制产品规格。
    仪器选型
    选择时考虑材料类型和厚度范围,匹配仪器量程与精度;接触式探头需评估材料硬度避免压痕;比对测试速度与产线节拍;环境振动因素影响测量稳定性;校准证书和操作界面符合实际需求。

    术语

    标准

    检测仪器

    该夹具可固定蝶形试样上下两端成垂直状,测试竖压强度,适用于多种瓦楞纸板类型,外形尺寸150*105*65mm,重量约2Kg,操作简便。

    ¥ 3240.00

    测定湿膜在垂直状态下流动变厚情况,控制涂料物理性能选择合适湿膜厚度,确保均匀膜厚,厚度范围450-675μm,符合GB/T 9264和ASTM D 3730标准。

    ¥ 450.00

    立式双风道垂直热风循环设计,温度均匀性±1.0℃,调速式风机可调节风量,大屏幕液晶显示,独立限温报警系统确保安全运行。

    ¥ 5800.00

    采用立式双风道垂直热风循环,温度波动度±1.0℃,工作室尺寸350×350×350mm,配备PID微电脑智能控温仪和可调速风机,确保温度均匀稳定。

    ¥ 3780.00

    采用立式双风道垂直热风循环,控温精度±1.0℃,温度分辨率0.1℃,具有定时及超温报警功能,涡轮离心式扇叶配合底鼓风与底加热,确保温度均匀性。

    ¥ 10200.00

    采用立式双风道垂直热风循环技术,温度波动度±1.0℃,工作室容积65L,配备涡轮离心式扇叶和PID智能控温,确保温度分布均匀且控温精准。

    ¥ 4200.00

    支持正反转收放卷功能,具备张力控制和纠偏功能,竖直网布运行速度1mm/s至1m/min,有效涂布面积1500*600mm,确保网布垂直稳定无晃动。

    ¥ 88000.00

    立式设计配合底鼓风与底加热器,涡轮离心式扇叶实现垂直热风循环,温度波动度±1.0℃,工作室容积125L,PID微电脑智能控温确保温度均匀稳定。

    ¥ 5480.00

    立式双风道垂直热风循环设计确保温度分布均匀,调速式风机可根据实验需求调节风量,工作室尺寸350×350×350mm,容积42L,具有独立限温报警系统和参数记忆功能。

    ¥ 5280.00

    立式双风道垂直热风循环设计确保温度分布均匀,工作室尺寸310×310×310mm,调速式风机可调节风量,大屏幕液晶显示多组数据,具有参数记忆和超温报警功能。

    ¥ 4700.00

    配备10条沟槽设计,膜厚范围50-275μm,分度值25μm,支持垂直放置测试,确保涂膜均匀性评估,符合多国标准要求。

    ¥ 520.00

    立式双风道垂直热风循环设计,温度均匀性高,控温精度达±1.0℃,工作室容积30L,配备涡轮离心式扇叶和低噪声鼓风机,风机三档调速,操作维护便捷。

    ¥ 3280.00

    该设备提供450-1000μm膜厚测试范围,分度值50/100μm,配备10条沟槽,可精确模拟垂直面涂膜流挂行为,确保测试条件稳定可靠。

    ¥ 520.00

    测定湿膜在垂直状态下流动变厚,控制涂料物理性能选择合适湿膜厚度,涂膜厚度650-875μm,采用优质耐磨耐腐蚀合金钢材料,确保耐久性和准确性。

    ¥ 450.00

    垂直振荡方式配合280rpm频率,运行平稳噪音小,采用不锈钢弹簧万用夹具,可适配多种试瓶,满足多样混匀需求。

    ¥ 1750.00

    应用知识

    超声波测厚仪选型 探头配置与测量模式的技术考量
    这篇文章主要介绍了超声波测厚仪选型时需考虑的技术因素。探头配置方面,频率高低影响分辨率和穿透深度,晶片尺寸决定适应曲率和表面状态,双晶探头比单晶盲区更小,延迟块适用于薄壁和高温场景。
    机械测厚仪测薄膜厚度均匀性
    机械测厚仪通过接触式测量评估薄膜厚度均匀性。测量时,测头在标准压力下接触样品,将位移转换为厚度读数。
    涂层测厚仪采用磁性法与涡流法在不同基材上的选型
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种主要方法:磁性法和涡流法。选择方法时,关键要根据基材的电磁特性决定。
    涂层测厚仪在电镀层厚度检测中的应用
    涂层测厚仪用于测量电镀层厚度,主要通过电磁感应法测磁性基体上的非磁性镀层,或用涡流法测非磁性金属基体上的绝缘镀层。
    库仑测厚仪测量阳极氧化膜封孔质量
    这篇文章介绍了用库仑测厚仪测量阳极氧化膜封孔质量的方法。封孔质量会影响氧化膜的耐腐蚀和耐磨性能。库仑测厚仪通过电化学原理,测量溶解氧化膜所需的电量来评估封孔效果,结果客观可重复。
    超声波测厚仪检测厚涂层及复合涂层
    超声波测厚仪利用超声波脉冲反射原理测量涂层厚度,通过计算声波在材料中的传播时间与声速得出结果。检测厚涂层和复合涂层时,需应对材料声衰减、声速未知及多层界面信号识别等挑战。
    涡流测厚仪测量非导电基体上金属镀层
    涡流测厚仪利用电磁感应原理,通过探头线圈产生交变磁场,在金属镀层中感应涡流,从而根据线圈阻抗变化测量厚度。
    库仑法涂层测厚仪对贵金属镀层的无损测量
    库仑法涂层测厚仪通过电解溶解原理,测量溶解贵金属镀层所需的电量来计算厚度。该方法对样品整体无损,仅形成微小电解斑点。
    涂层测厚仪磁感应与电涡流双原理仪器对比
    这篇文章对比了两种涂层测厚仪的原理。选择哪种方法,关键看基体材料:是磁性金属就用磁感应,是非磁性金属就用电涡流。
    电解测厚仪在精密电镀层质量控制中的应用
    电解测厚仪通过电化学溶解原理测量镀层厚度,依据法拉第定律计算,精度高且不依赖校准。
    超声波测厚仪测量软包装材料厚度
    这篇文章介绍了超声波测厚仪测量软包装材料厚度的原理、技术要点和操作流程。它基于超声波脉冲反射原理,通过测量声波在材料中的传播时间计算厚度。
    涡流测厚仪检测非铁金属上涂层
    涡流测厚仪利用电磁感应原理,通过探头线圈产生交变磁场,在非铁金属基体表面感应出涡流。
    磁性测厚仪测量钢铁表面涂层厚度
    磁性测厚仪用于测量钢铁等铁磁性基体表面的非磁性涂层厚度,其原理基于磁感应或磁吸力变化。使用前需按相关标准校准,并注意基体特性、工件形状、表面状况等因素对测量的影响。
    涂层测厚仪测量干膜厚度的原理
    涂层测厚仪通过非破坏性方法测量干膜厚度,常用原理包括电磁感应法、涡流法和超声波法。
    涂层测厚仪零点校准与基材校准的标准操作流程
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种关键校准方法:零点校准和基材校准。操作中要注意探头垂直、压力均匀,并定期校准和记录。这些步骤能有效提升测量准确性,满足行业标准要求。