仪器商品分类

    荧光材料色差仪

    荧光材料色差仪通过多角度光源照射样品,测量荧光物质受激发射的可见光波长与强度,计算色度坐标和色差值。用于检测荧光涂料、油墨等材料的颜色一致性,控制生产批次色差。
    仪器选型
    选择时考虑样品荧光强度匹配仪器量程,配置包含紫外波段的光源系统,确保测量孔径适应样品形状,软件需支持荧光色度计算,操作界面符合日常检测流程需求。

    检测仪器

    采用LED光源和45/0照测条件,测量范围0~199.9,分辨率0.1,可检测荧光增白剂并测定增白度,重复性≤0.3。

    ¥ 2130.00

    采用457nm蓝光波长测量漫反射因数,重复性达0.2,可检测荧光增白剂并计算荧光白度值,适用于多种材料表面白度分析。

    ¥ 2980.00

    采用斜式标准看台和标准日光灯照射,工作台尺寸270*270mm可旋转,通过目视标记圈出试样上尘埃,用标准尘埃对比图鉴定尘埃面积大小,符合GB/T1541等标准要求。

    采用d/0照测条件,测量范围0~199.9,可测定薄页材料不透明度,具有全自动校准和数据存储功能,稳定性和复现性高,消除系统漂移误差。

    ¥ 2690.00

    采用45°/0°照明方式,测量面积约Φ10mm,重复性标准偏差在ΔE*ab 0.5内,支持多种色彩空间显示和统计功能,轻便易用。

    ¥ 1200.00

    适配NS系列分光测色仪,可测量液体、酱状物及粉末样品,实现多种形态材料的色彩数据采集,扩展仪器应用范围。

    采用45°/0°照明方式,测量口径Φ10mm,重复性标准偏差在∆E*ab 0.5内,支持多种颜色空间显示和统计功能,自动记忆99组数据。

    ¥ 1290.00

    采用双40阵列传感器和D/8结构,支持SCI/SCE同时测量,测试时间约3.2秒,重复性ΔE*ab控制在0.02以内,适用于荧光样品和多种颜色空间分析。

    采用45/0环形照明几何结构,配备Φ8mm和Φ4mm双测量口径,色度值重复性ΔE*ab 0.03以内,支持荧光样品测量及多种色差公式计算。

    采用45/0光学结构和256像元双阵列CMOS感应器,重复性ΔE*ab控制在0.02以内,支持多种测量口径和荧光样品,确保颜色数据准确稳定。

    采用特殊密封材质提升避光性,检测结果准确稳定;底部检测设计不受角度影响,数据可靠;检测下限≤1.0 CFU/ml,重现性好,适用于痕量ATP分析。

    ¥ 2800.00

    采用特殊密封材质提升避光性,检测结果准确稳定;底部检测设计不受角度影响,数据可靠;检测下限≤1.0 CFU/ml,检测时间1-60秒,一体化箱式便携。

    ¥ 4100.00

    采用特殊密封材质提升避光性,检测结果精确稳定;底部检测设计不受角度影响;检测精度达1X10-16mol ATP,检测范围0-9999 RLU,一体化便携箱式设计。

    ¥ 3432.00

    采用无限远光学系统及模块化设计,配置平场消色差荧光物镜,微动格值2μm,支持多波段荧光滤光片组,操作舒适。

    配备254nm和365nm双波长石英紫外灯管,支持单独或混合使用模式,集成普通荧光灯辅助照明,整机重量仅3.7千克便于操作维护。

    ¥ 450.00