雾度测量仪

支持雾度和透过率测量，雾度分辨率达0.01单位，重复性≤0.1单位，开放式测量区域可垂直操作，配备多种夹具适应不同样品形态。

采用256像元双阵列CMOS图像感应器和凹面光栅分光，雾度重复性小于0.05，支持动态测量和多种观测光源，确保数据准确可靠。

采用256像元双阵列CMOS图像感应器，实现0.01单位雾度分辨率；配备动态测量功能，实时监控环境变化确保数据可靠性；开放测量区域支持竖立卧式测试。

开放式测量区域支持垂直测量，厚度≤145mm样品兼容，雾度重复性≤0.05%，提供透过率补偿测量和丰富夹具，适应不同形态样品。

采用PD阵列探测器实现0.01单位雾度分辨率，开放式样品仓支持竖立卧式双模式测试，配备动态测量系统确保数据可靠性。

采用256像元双阵列CMOS图像感应器和凹面光栅分光，雾度重复性小于0.05，支持动态测量和多种观测光源，确保数据准确可靠。

采用256像元双阵列CMOS图像感应器和凹面光栅分光，实现高精度透射率及雾度测量，重复性小于0.05，支持多种观测光源和动态温度监控。

采用256像元双阵列CMOS图像感应器和凹面光栅分光，雾度分辨率达0.01单位，支持动态测量和开放样品区域，适应不同厚度样品测试需求。

采用256像元双阵列CMOS图像感应器和凹面光栅分光，雾度重复性小于0.05，支持动态测量和多种观测光源，确保数据可靠且适应不同样品测试需求。

采用PD阵列探测器实现0.01单位雾度分辨率，开放式样品仓支持竖立卧式测试，配备动态测量系统监控环境变化确保数据可靠性。

采用256像元双阵列CMOS感应器和凹面光栅分光，雾度重复性小于0.05，支持动态测量和多种色度指标，适应竖立或卧式测试。

采用PD阵列探测器和Φ8mm测量孔径，满足CIE V(λ)2度视觉响应，开放式样品仓支持竖立卧式测试，测量时间约1.5秒，雾度分辨率达0.01单位。

无需预热即用即测，测试时间仅2秒；采用LED光源寿命长达十年；可储存20000组数据；支持垂直和卧式两种测量方式。

采用PD阵列探测器实现0.1单位雾度分辨率，开放式样品仓支持竖立卧式双模式测试，配备动态测量系统实时监控环境数据

采用360~780nm复合全光谱LED光源，配备256象元CMOS探测器，测量波长范围360~780nm，间隔10nm，实现雾度、透过率、色度等多种光学指标的精确测试。