光色测温仪

采用D/8光学结构，重复性ΔE*ab不高于0.03，可自定义色差阈值进行QC检测，支持7种颜色空间和6种色差公式，满足多行业颜色管理需求。

该配件采用16mm孔径设计，搭配光学级石英容器，可测量液体、浆状物、粉末及细小颗粒，简化样品处理流程，提升测量效率。

采用20mm大口径设计，能均匀测量纹理粗糙表面；重复性△E*ab≤0.03，确保高精度；配备触摸屏和色卡匹配，操作便捷，支持多种色差公式和颜色空间。

采用无限远光学系统，配备半复消色差物镜和相衬聚光镜，提供40X-1000X放大范围，可观察较厚样本并增强细胞结构三维轮廓。

采用双光束反馈光学系统实时补偿光源波动，光谱反射率重复性标准偏差0.1%以内，器间差ΔE*ab高达0.08，无需UV校正即可准确测量荧光材料。

采用45°/0°光学几何结构，测量结果与目测一致；8mm测量口径，重复性ΔE*ab在0.08以内；内置白板参数无需每次校验，双定位技术提升测量精准度。

采用45/0光学结构和256像元双阵列CMOS感应器，重复性ΔE*ab控制在0.02以内，支持多种测量口径和荧光样品，确保颜色数据准确稳定。

采用漫透射光路设计，光密度测量范围0.00-6.00 OD，透光率精度±2%，可同时测量透光率、绝对光密度、相对光密度和网点面积率。

采用无限远光学系统及模块化设计，配置平场消色差荧光物镜，微动格值2μm，支持多波段荧光滤光片组，操作舒适。

采用双光路设计提升测量稳定性，重复性精度达dE*ab≤0.03；集成纳米光学器件厚度仅5微米，支持40种光源和30多种测量指标。

宽度2cm，光程10mm，外形尺寸12.5×22.5×45mm，专为分光光度计设计的配套比色皿，确保光学检测精度。

宽度3cm，光程10mm，外形尺寸12.5×32.5×45mm，作为分光光度计专用配件，确保光路稳定和测量准确性。

采用双光路传感阵列和紫外增强硅光电二极管，分辨率0.0001，透射率测量范围0-200%，支持APHA/PtCo、Gardner和Saybolt色度标尺，确保高重复性和准确性。

采用无限远光学系统，配置平场消色差荧光物镜，微动格值2μm，粗微动同轴调焦，支持多种荧光滤光片组，适用于低照度显微图像拍摄。

采用45/0°光学结构，非接触距离7.5mm，测量波长400-700nm，避免样品污染与损伤，支持多种测量模式和高精度色彩分析。