采用进口高亮度光源和窄带滤光系统，光学稳定性强，测量范围0~400NTU，精确度≤±2%F.S，支持数据存储和USB接口上传。
采用进口高亮度光源和窄带滤光系统，光学稳定性≤0.002A/20min，支持用户自行标定曲线，主机机壳采用防腐蚀ABS材料。
可同时测量紫外辐照强度和阻隔率，光谱响应260-380nm，功率量程0-40000uW/cm²，自动换算阻隔率并直接显示，便携式设计使用方便。
采用图像法进行颗粒形貌分析，测量范围0.1~3000μm，总放大倍数8000倍，支持自动分割和多种几何参数测量，操作高效。
采用图像法进行颗粒形貌分析，测量范围0.1~3000μm，总放大倍数8000倍，具备自动分割和多种几何参数测量功能。
全中文菜单式操作，高亮度LED背光便于光线灰暗环境使用，自动休眠和自动关机节电设计，锂电池可持续工作10小时，支持360°测量方向，存储600组数据。
采用CMOS双路分光传感器和全波段均衡LED光源，重复性ΔE*ab 0.035以内，台间差ΔE*ab<0.35，配备Φ4mm/Φ5mm双测量口径，支持多种颜色空间和观测光源。
搭载2000万像素索尼IMX183传感器和全局快门技术，支持实时图像拼接和景深融合，USB3.0接口实现15fps高速传输，提供完整的图像采集至报告输出工作流程。
采用图像分割技术处理重叠粉尘，保持颗粒原型；测量范围0.1~3000μm，重复性误差≤±1%；支持自定义粒径分级和多种图像处理方法。
采用图像分割技术处理重叠粉尘，保持颗粒原貌；测量范围0.1~3000μm，重复性误差≤±1%；支持自动分级和自定义参数分析，操作简便快捷。
采用图像法分析颗粒形貌与粒度，测试范围1~3500μm，系统放大倍数4000倍，自动分割成功率超93%，可统计长径比和球形度等参数。
采用CCD摄像系统实现1280×1024分辨率影像分析，支持0~180°接触角和0~400mN/m表面张力测量，具备动态接触角分析和固体表面能估算功能。
测量范围0-40000W/m²，光谱响应1000-1700nm，可自动计算并显示红外阻隔率，感光孔径10mm，适用于多种红外光源和隔热材料的性能测试。
