双基基膜测厚仪

采用磁感应和电涡流双原理，测量范围0-2000μm，精度±3%，配备红宝石测头耐磨耐腐蚀，支持自动识别铁基和非铁基材料，无需校准操作简便。

符合ISO2808-1974标准，量程0~150μm，精度不大于5μm，可测定湿膜厚度并估计干膜厚度，适用于实验室和生产控制。

采用双功能探头设计，测量范围0-1000微米，配备耐磨红宝石探头和V形槽结构，支持自动基材识别和零点校准功能。

采用磁性涡流两用原理，测量范围0~1250微米，精度±(1%-3%)H+1.5μm，具备连续和单次测量模式，支持数据存储和统计功能，探头灵敏度高，适用于多种基体材料。

符合ISO2808标准，量程0~500μm，精度不大于5μm，可测定湿膜厚度并估计干膜厚度，适用于实验室和生产现场。

采用不锈钢材质，厚度仅1.5mm，量程20~200μm，分刻度20μm，卡片式设计便于现场快速测量湿膜涂层厚度。

内置探头一体结构设计，测量范围0~1250μm，分辨率1μm，可自动识别基体材质，支持最小Φ10mm测量面和凸1.5mm曲率半径测量。

最大负荷0.5KN，设计用于固定测力计显示器，提供可靠的夹持力，适用于多种测试场景，确保测量稳定性。

采用三道轮结构设计，中心轮接触膜层直接读数，量程0-500μm分度25μm，可在平面和曲面进行无损厚度测量。

采用双测量原理，支持磁感应和涡流法，测量精度±3%，具备单次和连续两种测量模式，自动识别基体材质并记忆校准值。

采用滚轮式设计，量程范围0~500μm，不锈钢材质确保耐用性，适用于现场快速测量湿膜厚度，符合多项执行标准。

采用合金一体化探头和32位处理芯片，支持磁感应与电涡流双原理，测量范围达3000μm，误差±3%，具备自动基材识别和2000组数据存储，操作便捷且重复性好。

采用磁感应和电涡流双测量原理，测量范围0-1250μm，误差±3%，具有自动识别基体材质功能和大探头设计，确保测量稳定性和准确性。

采用磁感应和电涡流双原理，测量范围0-1500μm，分辨率0.1μm，探头耐磨50万次以上，支持镀锌克重与厚度切换显示，适用于各种金属基体检测。

采用双功能测量原理，测量范围0~1250μm，误差±1~3%，具备连续和单次测量模式，大容量存储2000组数据，支持多种校准方式和统计功能。