仪器商品分类

    感应搅拌机

    感应搅拌机利用电磁感应原理驱动容器内磁子旋转,无需机械接触即可混合液体。它通过交变磁场带动磁力搅拌子转动,实现样品均匀混合、加热或溶解。适用于实验室中化学反应、溶液配制及温度控制等场景。

    检测仪器

    采用三相交流感应电机确保转矩稳定,进口变频器实现100~1400rpm宽范围调速,大底盘三立柱配合多滑块提供灵活定位,夹持范围覆盖Φ1~10mm搅拌棒。

    ¥ 1580.00

    采用高精度光电感应开关和精密丝杆传动,荷重可叠加500/750/1000g,测试角度45°,运行精准稳定,符合多种国际标准要求。

    ¥ 5300.00

    采用磁感应技术测量0-1500μm范围,误差±1%,配备90°探头便于狭窄空间操作,带彩色触摸屏和USB接口实时显示数据。

    ¥ 9470.00

    采用磁感应原理,测量范围0-3000μm,精度±3%,一体式探头设计,最小可测Φ25mm平面及凸5mm曲面,满足多项国际标准。

    ¥ 3740.00

    采用直流电机驱动,转速范围0~2800rpm,具备光感应和连续两种操作模式,永磁直流电机不易发热可长时间运行,柔软硅胶脚垫防震稳固。

    ¥ 980.00

    采用磁感应原理实现无损测量,具备0~12000μm宽量程和±3%误差精度,支持自动基体识别和单次连续双模式测量,配备USB和蓝牙数据输出接口。

    ¥ 3400.00

    采用磁感应和电涡流原理,测量范围0~1250μm,误差±3%,支持蓝牙传输和自动识别基体材质,适合单手操作。

    ¥ 3040.00

    具备电导率和感应双模测量,可无损检测;测量范围0~80%,精度±(0.5%n+1);支持USB、RS-232和蓝牙输出,提供数字与LED状态双重显示。

    ¥ 1050.00

    采用磁感应和电涡流双原理,测量范围0~2000µm,误差±1~3%,具备自动识别基体材质和记忆校准功能,支持分体式探头增强机动性。

    ¥ 1640.00

    采用磁感应测量方法,量程0~5mm,误差±5%,可测量多种非铁磁性涂层,适用于不同曲率基体表面。

    ¥ 1770.00

    采用磁感应和电涡流双原理,测量范围0~500μm,分辨率达0.1μm,具备耐磨硬质金属探针和自动校准功能,支持USB数据通讯。

    ¥ 1250.00

    采用磁感应原理实现0-1250μm范围测量,配备大探头提升稳定性,支持单次连续两种测量模式,具备自动校准和基体材质识别功能。

    ¥ 1530.00

    采用磁感应原理测量0-3000μm厚度,配备耐磨红宝石探头和IP65防护等级,探头上带有LED状态提示灯,支持电子校准证书。

    ¥ 5410.00

    采用磁感应和电涡流原理,测量范围0~500um,分辨率0.1μm,具有耐磨硬质金属探针和自动校准功能,支持单次和连续测量模式。

    ¥ 1250.00

    采用磁感应和电涡流双原理,测量范围0~1250μm,分辨率达0.1μm,配备耐磨硬质金属探针,支持99组数据存储和统计计算功能。

    ¥ 2800.00

    应用知识

    实验室搅拌机选型 粘度决定扭力
    这篇文章主要讲实验室搅拌机怎么根据物料粘度选型。粘度越高,需要的扭力越大,低粘度液体适合高转速低扭力,高粘度物料则需要低转速高扭力。
    涂层测厚仪在电镀层厚度检测中的应用
    涂层测厚仪用于测量电镀层厚度,主要通过电磁感应法测磁性基体上的非磁性镀层,或用涡流法测非磁性金属基体上的绝缘镀层。
    涡流测厚仪测量非导电基体上金属镀层
    涡流测厚仪利用电磁感应原理,通过探头线圈产生交变磁场,在金属镀层中感应涡流,从而根据线圈阻抗变化测量厚度。
    涂层测厚仪磁感应与电涡流双原理仪器对比
    这篇文章对比了两种涂层测厚仪的原理。选择哪种方法,关键看基体材料:是磁性金属就用磁感应,是非磁性金属就用电涡流。
    涡流测厚仪检测非铁金属上涂层
    涡流测厚仪利用电磁感应原理,通过探头线圈产生交变磁场,在非铁金属基体表面感应出涡流。
    磁性测厚仪测量钢铁表面涂层厚度
    磁性测厚仪用于测量钢铁等铁磁性基体表面的非磁性涂层厚度,其原理基于磁感应或磁吸力变化。使用前需按相关标准校准,并注意基体特性、工件形状、表面状况等因素对测量的影响。
    涂层测厚仪测量干膜厚度的原理
    涂层测厚仪通过非破坏性方法测量干膜厚度,常用原理包括电磁感应法、涡流法和超声波法。
    涂层测厚仪是什么?原理、用法和应用领域全解析
    文章系统阐述了磁感应与涡流两种核心测量原理的工作方式,详细说明了从校准到数据记录的标准测量流程,深入分析了基材特性、几何形状及环境因素对测量精度的影响。