采用双光路光谱分析技术，配备脉冲氙灯和LED双光源，支持SCI+SCE同时测量，测量时间小于4秒，具备温度与湿度运算补偿功能。
采用双光路传感阵列和紫外增强硅光电二极管，分辨率0.0001，透射率测量范围0-200%，支持APHA/PtCo、Gardner和Saybolt色度标尺，确保高重复性和准确性。
采用三合一光路设计，一次对孔可同时测量三种波长透过率。配备1mm测试孔径和自动校准功能，支持850nm/940nm红外及550nm可见光测量，精度达±2%。
双光路设计提升重复性至dE*ab≤0.03，配备纳米集成光学器件实现精确分光；支持自动校准和双口径切换，内置摄像头精确定位测量区域，兼容多种软件平台。
测量范围0-40000W/m²，光谱响应1000-1700nm，可自动计算并显示红外阻隔率，感光孔径10mm，适用于多种红外光源和隔热材料的性能测试。
采用三合一平行光路设计，一次测量可见光、红外和紫外透过率；测试孔径1.3mm，适合小尺寸和厚材料；具有自动校准和大容量存储功能。
配备256x192探测器分辨率，焦距可调最小观察距离20mm，支持双板拼接扩大观察面积，多轴支架实现多角度观察，可同时显示环境温度和热成像温度。
配备红外传感器和热敏探头双测量模式，响应时间仅1秒，光学系数3:1，支持-40~150℃宽范围测温，满足不同场景的精准温度检测需求。
采用双光路设计提升测量稳定性，重复性精度达dE*ab≤0.03；集成纳米光学器件厚度仅5微米，支持40种光源和30多种测量指标。
采用双光路阵列传感器确保测量稳定性，配备摄像头辅助定位系统，支持Φ8mm/Φ4mm双口径切换，重复精度△E*ab≤0.03，集成多种颜色空间和标准光源。
三合一光路一次测量三种波长透过率，测试孔径1mm适应小尺寸材料，平行光设计确保厚材料测量稳定，精度达±2%且分辨率0.1%。
采用氧化钒非制冷红外焦平面探测器，测温分辨率达0.1℃，具备56°×42.2°视场角和免调焦设计，支持中心点测温和冷热点自动追踪功能。
采用平行光路设计，支持47mm厚度材料测试，可同时测量紫外线365nm、红外线940nm及可见光透过率，具备实时自校准功能，操作简单快速显示三项结果。
