采用磁感应测厚原理，测量范围0~1250微米，适配leeb242机型，可连接打印机输出数据，适用于磁性金属基体上的非磁性涂层厚度检测。
采用磁感应原理，测量范围达0-10000μm，支持一点和二点校准，分体式结构设计可适配多种探头类型，满足不同涂层厚度测量需求。
采用磁感应和电涡流两种测量方法，覆盖0-1500μm范围，分辨率达0.1μm，支持连续和单次测量模式，具备统计功能和500组数据存储，适用于不同曲率半径和基体厚度场景。
采用磁感应原理测量0-1250μm厚度，配备带线探头可测量凹槽和狭窄区域，支持单点和两点校准，具有自动基体识别和欠压提示功能。
采用磁感应原理测量涂层厚度，测量范围0-1250μm，分辨率达0.1μm，具有自动识别探头、数据存储和上下限报警功能，铝制外壳坚固耐用。
采用磁感应原理实现无损测量，具备0~12000μm宽量程和±3%误差精度，支持自动基体识别和单次连续双模式测量，配备USB和蓝牙数据输出接口。
采用磁感应和电涡流双测厚方法，测量范围0-1500μm，分辨率0.1μm，支持连续和单次测量，具有统计功能和500组数据存储。
采用磁感应和电涡流原理，测量范围0~1250μm，分辨率0.1μm，支持F型和NF型探头，可测量导磁和非导磁基体上的覆盖层厚度。
采用机械式设计无需电池，测量范围0-2000μm，配备耐磨硬质合金探头和磁性测量系统，通过表盘和声音提示完成测量，适用于各种工业环境。
采用磁感应和涡流双测厚方法，测量范围0-1250μm，误差±3%，自动识别铁基与非铁基体，具备统计功能和欠压指示，操作便捷。
采用磁感应原理，测量范围0-3000μm，精度±3%，一体式探头设计，最小可测Φ25mm平面及凸5mm曲面，满足多项国际标准。
采用磁感应原理测量，厚度范围0~1000μm，误差±3%，具备低电压提示功能，支持分体探头和定制量程，适应不同曲率基体测量需求。
