仪器商品分类

    绝缘皮测厚仪

    绝缘皮测厚仪通过涡流或超声波原理测量电线电缆表面绝缘层厚度。探头接触绝缘层时产生电磁场或声波反射,根据信号变化计算厚度值。用于生产线上实时监测绝缘层均匀性,防止过薄导致漏电或过厚浪费材料。
    仪器选型
    选择时考虑测量范围覆盖产品厚度,精度满足工艺要求。探头尺寸适配被测物形状,手持式适合抽检,固定式用于连续生产。环境耐受性匹配车间温湿度,校准方式简便。数据接口兼容现有记录系统。

    术语

    标准

    检测仪器

    采用150W Philips红外灯,峰值波长950nm,温度测量精度±0.5℃,隔热率精度±2%,可快速对比不同材料隔热性能,测试时间仅1分钟。

    ¥ 1180.00

    采用耐高温玻璃纤维绝缘材料编织成半球形内热式加热器,最高使用温度达380℃,加热面积大且升温迅速,保温效果优异,避免明火危险。

    ¥ 3680.00

    采用耐高温玻璃纤维绝缘材料编织成半球形内热式加热器,加热面积大且升温快,最高使用温度达380℃,保温效果好且无明火,避免碰伤玻璃器皿。

    ¥ 660.00

    采用耐高温玻璃纤维绝缘材料编织成半球形内热式结构,加热面积大且升温迅速,保温效果优异;无明火设计避免碰伤玻璃器皿,最高使用温度达380℃,功率1500W支持连续工作。

    ¥ 960.00

    采用耐高温无碱玻璃纤维绝缘材料,电阻丝密封在绝缘层内,加热面积大,升温快,保温效果好,最高使用温度380℃,功率4000W,无明火设计,不易碰伤玻璃器皿。

    ¥ 3880.00

    采用耐高温玻璃纤维绝缘层密封电阻丝,加热面积大且升温快,最高使用温度380℃并支持连续工作,无明火设计避免碰伤玻璃器皿。

    ¥ 1280.00

    采用耐高温玻璃纤维绝缘层密封电阻丝,加热面积大且升温快,最高使用温度380℃并支持连续工作,半球形设计避免碰伤玻璃器皿。

    ¥ 1580.00

    采用耐高温无碱玻璃纤维绝缘层密封电阻丝,加热面积大且升温快,最高使用温度达380℃,支持连续工作模式,无明火设计避免玻璃器皿碰伤。

    ¥ 1000.00

    采用150W Philips红外灯,双灯温度不均匀度2C°,单边温度测量精度±0.5℃,可同时对比两种材料隔热效果并实时显示温度差值。

    ¥ 1080.00

    采用耐高温玻璃纤维绝缘材料编织成半球形内热式加热器,加热面积大且升温快,最高使用温度380℃,功率2500W,无明火设计避免碰伤玻璃器皿。

    ¥ 1680.00

    具备0.0MΩ~19.9GΩ宽量程绝缘测试能力,支持50V至1000V多档额定电压,集成交流电压测试功能,采样率0.5-10次/秒,带蜂鸣警报提示。

    ¥ 238.00

    采用耐高温无碱玻璃纤维绝缘层密封电阻丝,加热面积大升温快,最高使用温度380℃且支持连续工作,半球形设计不易碰伤玻璃器皿。

    ¥ 920.00

    采用耐高温无碱玻璃纤维绝缘材料密封电阻丝,加热面积大且升温快,最高使用温度达380℃,半球形内热式设计避免碰伤玻璃器皿,支持连续工作模式。

    ¥ 780.00

    四通道K型热电偶配置,精度达0.5%,隔热性能在400℃下维持60分钟,支持多速率采样和数据同步分析,确保温度测绘稳定可靠。

    ¥ 5370.00

    采用耐高温玻璃纤维绝缘材料编织成半球形内热式加热器,加热面积大且升温快,最高使用温度达380℃,具备电子调压功能可实现精确控温,无明火设计避免碰伤玻璃器皿。

    ¥ 300.00

    应用知识

    超声波测厚仪选型 探头配置与测量模式的技术考量
    这篇文章主要介绍了超声波测厚仪选型时需考虑的技术因素。探头配置方面,频率高低影响分辨率和穿透深度,晶片尺寸决定适应曲率和表面状态,双晶探头比单晶盲区更小,延迟块适用于薄壁和高温场景。
    机械测厚仪测薄膜厚度均匀性
    机械测厚仪通过接触式测量评估薄膜厚度均匀性。测量时,测头在标准压力下接触样品,将位移转换为厚度读数。
    涂层测厚仪采用磁性法与涡流法在不同基材上的选型
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种主要方法:磁性法和涡流法。选择方法时,关键要根据基材的电磁特性决定。
    涂层测厚仪在电镀层厚度检测中的应用
    涂层测厚仪用于测量电镀层厚度,主要通过电磁感应法测磁性基体上的非磁性镀层,或用涡流法测非磁性金属基体上的绝缘镀层。
    库仑测厚仪测量阳极氧化膜封孔质量
    这篇文章介绍了用库仑测厚仪测量阳极氧化膜封孔质量的方法。封孔质量会影响氧化膜的耐腐蚀和耐磨性能。库仑测厚仪通过电化学原理,测量溶解氧化膜所需的电量来评估封孔效果,结果客观可重复。
    超声波测厚仪检测厚涂层及复合涂层
    超声波测厚仪利用超声波脉冲反射原理测量涂层厚度,通过计算声波在材料中的传播时间与声速得出结果。检测厚涂层和复合涂层时,需应对材料声衰减、声速未知及多层界面信号识别等挑战。
    涡流测厚仪测量非导电基体上金属镀层
    涡流测厚仪利用电磁感应原理,通过探头线圈产生交变磁场,在金属镀层中感应涡流,从而根据线圈阻抗变化测量厚度。
    库仑法涂层测厚仪对贵金属镀层的无损测量
    库仑法涂层测厚仪通过电解溶解原理,测量溶解贵金属镀层所需的电量来计算厚度。该方法对样品整体无损,仅形成微小电解斑点。
    涂层测厚仪磁感应与电涡流双原理仪器对比
    这篇文章对比了两种涂层测厚仪的原理。选择哪种方法,关键看基体材料:是磁性金属就用磁感应,是非磁性金属就用电涡流。
    电解测厚仪在精密电镀层质量控制中的应用
    电解测厚仪通过电化学溶解原理测量镀层厚度,依据法拉第定律计算,精度高且不依赖校准。
    超声波测厚仪测量软包装材料厚度
    这篇文章介绍了超声波测厚仪测量软包装材料厚度的原理、技术要点和操作流程。它基于超声波脉冲反射原理,通过测量声波在材料中的传播时间计算厚度。
    涡流测厚仪检测非铁金属上涂层
    涡流测厚仪利用电磁感应原理,通过探头线圈产生交变磁场,在非铁金属基体表面感应出涡流。
    磁性测厚仪测量钢铁表面涂层厚度
    磁性测厚仪用于测量钢铁等铁磁性基体表面的非磁性涂层厚度,其原理基于磁感应或磁吸力变化。使用前需按相关标准校准,并注意基体特性、工件形状、表面状况等因素对测量的影响。
    涂层测厚仪测量干膜厚度的原理
    涂层测厚仪通过非破坏性方法测量干膜厚度,常用原理包括电磁感应法、涡流法和超声波法。
    涂层测厚仪零点校准与基材校准的标准操作流程
    这篇文章介绍了涂层测厚仪的两种关键校准方法:零点校准和基材校准。操作中要注意探头垂直、压力均匀,并定期校准和记录。这些步骤能有效提升测量准确性,满足行业标准要求。