仪器商品分类

    扫描光学显微镜

    扫描光学显微镜通过光束逐点扫描样品表面,探测器接收反射或透射光信号成像。用于观察材料表面形貌、结构分布,在涂层厚度检测、纤维分析等领域有应用。

    检测仪器

    采用无限远光学系统,配备40X-1000X放大范围和N.A.1.25阿贝聚光镜,支持数字化观察和多种辅助设备扩展。

    ¥ 12310.00

    采用无限远光学系统,支持40X-1600X放大范围,配备阿贝聚光镜和同轴调焦机构,可实现高分辨率实时观察和数字存储功能。

    ¥ 7060.00

    无限远光学系统提供高分辨率图像,配备六孔物镜转换器和N.A.1.1阿贝聚光镜,支持自动对焦和多种观察方式,放大倍数40X-1000X。

    ¥ 71800.00

    采用无限远光学系统,配备相衬聚光镜和500万像素CMOS摄像机,支持40X-1600X放大观察,具备几何测量分析功能。

    ¥ 19050.00

    采用无限远光学系统,支持40X-1000X放大范围,配备500万像素CMOS摄像机和同轴调焦机构,可连接垂直照明和荧光装置扩展功能。

    ¥ 10440.00

    采用无限远光学系统提高成像质量,工作距离长达20mm,支持多种观察方法,放大倍数40X-1000X,满足不同实验需求。

    ¥ 4420.00

    采用无限远光学系统,提供清晰成像;超长工作距离聚光系统达70mm,支持高培养皿观察;紧凑稳定主体设计,有效防振。

    ¥ 16560.00

    采用无限远光学系统,支持多种观察方式,配备六孔物镜转换器和N.A.1.1阿贝聚光镜,放大倍数40X-1000X,操作简便灵活。

    ¥ 64300.00

    采用无限远光学系统及模块化设计,配置无应力长工作距离平场物镜,微动格值2μm,旋转载物台带360°刻度,支持偏光观察装置灵活移入移出光路。

    采用无限远光学系统与模块化功能设计,可实现偏光与暗场观察;粗微动同轴调焦系统微动格值2μm,导柱升降装置适应不同厚度工件检测需求。

    配备UIS无限远光学系统,支持相衬观察和暗视场功能,放大倍数40X-1600X,采用6V/20W卤素灯柯勒照明,可扩展荧光和垂直照明装置。

    ¥ 20920.00

    采用无限远光学系统,配备相衬聚光镜和可变光栏,放大倍数40X-1600X,支持相衬物镜和明场观察,可扩展荧光等辅助装置。

    ¥ 13420.00

    采用无限远光学系统,配置无应力长工作距离平场物镜,微动格值2μm,旋转载物台360°可调,支持偏光观察与显微摄影。

    采用无限远光学系统确保优良成像质量,70mm长工作距离聚光镜支持高培养皿观察,粗微动同轴调焦系统微动格值2μm实现精准对焦。

    采用无限远光学系统,工作距离达70mm,支持相衬观察和多种培养皿适配,紧凑稳定的主体设计满足防振要求,提供清晰的显微成像效果。

    ¥ 22180.00