仪器商品分类

    反光膜色差仪

    反光膜色差仪通过测量反光膜表面反射光的光谱数据,计算颜色坐标和色差值,用于检测反光膜颜色一致性,应用于交通标志、安全标识生产质量控制。
    仪器选型
    选择反光膜色差仪需考虑测量孔径匹配样品尺寸,支持标准观测角度,具备反光测量模式,仪器重复性满足行业允许误差,配套软件能输出反光膜专用色度指标。

    检测仪器

    适配NS系列分光测色仪,可测量液体、酱状物及粉末样品,实现多种形态材料的色彩数据采集,扩展仪器应用范围。

    采用D/8照明系统,台间差ΔE*00<0.2,配备非接触式自动白板校验技术,确保测量准确性,锂电池支持12000次连续测试。

    ¥ 800.00

    具备多功能聪明按键设计,支持30多种颜色指标和28种观测光源,采用非接触式自动白板校验技术,台间差ΔE*00小于0.2,测量稳定性高,便携轻巧仅88克。

    ¥ 1200.00

    采用国际公认罗维朋色标度,测量范围红色0.1-79.9、黄色0.1-79.9、蓝色0.1-49.9罗维朋单位,最小示值0.1,配备三种规格比色皿满足多样品检测需求。

    ¥ 3740.00

    采用双光路传感阵列和紫外增强硅光电二极管,分辨率0.0001,透射率测量范围0-200%,支持APHA/PtCo、Gardner和Saybolt色度标尺,确保高重复性和准确性。

    ¥ 10000.00

    采用1000线精密闪耀光栅和硅光电池阵列,光学分辨率小于10nm,可同时测量SCI/SCE光谱,台间差ΔE*ab<0.15,配备摄像头定位和稳定片平台。

    采用1000线精密闪耀光栅和硅光电池阵列,光学分辨率小于10nm,可同时测量SCI/SCE光谱,重复性ΔE*ab 0.03以内,支持双口径切换和摄像头定位。

    采用45/0光学结构和256像元双阵列CMOS感应器,重复性ΔE*ab控制在0.02以内,支持多种测量口径和荧光样品,确保颜色数据准确稳定。

    全自动一键测定多种白度参数,支持色品坐标≤0.001高精度,内置热敏打印机和RS232接口,适用于粉体、纸张等样品。

    ¥ 10810.00

    采用256像元双阵列CMOS感应器和平面光栅分光技术,测量重复性ΔE*ab控制在0.02以内,支持荧光样品测量和自定义容差设置。

    具备摄像取景功能防止测量偏差,重复性ΔE*ab 0.05以内,支持SCI和SCE双测量模式,存储20000条数据,适用于多种环境操作。

    ¥ 21500.00

    采用d/o照明观测几何条件,漫射球直径150mm,测试孔30mm,可测量ISO亮度、CIE白度、黄度、不透明度等12项参数,配备热敏打印机和RS232接口。

    具备摄像取景功能,防止测量偏差;重复性标准偏差△E*ab 0.05以内;双测量口径4mm和6mm可选;支持SCI和SCE同步测量,存储容量达20000条数据。

    ¥ 21500.00

    配备双口径切换功能,支持Φ8mm/Φ4mm测量;采用摄像头定位系统,确保测量精准;重复精度达△E*ab≤0.03,适用于多种样品快速分析。

    具备摄像取景功能防止测量偏差,重复性标准偏差ΔE*ab 0.05以内,双测量模式同步显示SCI和SCE结果,超大存储空间可存20000条数据。

    ¥ 21500.00