分体式干膜测厚仪

采用分体式探头设计，配备F和N探头，测量范围0~1500微米，分辨率0.1微米，自动识别基材类型，支持每分钟60多个读数，防护等级IP65。

采用涡流原理实现0-1250μm测量范围，具备单次和连续两种测量模式，支持公制英制单位转换，配备分体式探头和RS232C接口，提供自动校准和基体识别功能。

采用滚轮式设计，量程范围0~500μm，不锈钢材质确保耐用性，适用于现场快速测量湿膜厚度，符合多项执行标准。

采用磁感应和电涡流双原理，测量范围0-1250μm，支持分体式探头灵活更换，具备自动识别基体材质功能，最小可测曲面半径1.5mm。

采用分体式设计，配备F和N探头，测量范围0~1250μm，误差±3%，支持自动识别基体材质和RS-232C接口通讯，操作稳定可靠。

符合ISO2808-1974标准，量程0~150μm，精度不大于5μm，可测定湿膜厚度并估计干膜厚度，适用于实验室和生产控制。

分体式结构可自由更换探头，测量范围0-1500μm，精度±1%，IP65防护等级，支持1000个读数存储，适用于多种铁质金属底材环境。

符合ISO2808标准，量程0~500μm，精度不大于5μm，可测定湿膜厚度并估计干膜厚度，适用于实验室和生产现场。

分体式结构配备专用厚涂层探头，测量范围达0~13000μm，精度±3%，具备IP65防护等级和每分钟60多个读数的高速测量能力。

专用于涂层测厚仪校准，确保厚度测量准确，适用于F型设备，提升检测可靠性。

分体式设计配备液晶显示，测量范围1~250mm，声速5920m/s，具有耦合状态提示和零点校准功能，支持上下限公差设置和自动报警。

采用三道轮结构设计，中心轮接触膜层直接读数，量程0-500μm分度25μm，可在平面和曲面进行无损厚度测量。

采用磁性法测量原理，厚度范围0-3000μm，误差±3%，具有分体探头结构，支持单次和连续测量模式，配备RS-232C接口。

采用45°微型探头设计，测量范围0-1150μm，精度达±(0.02mils+1%)，适用于小零件和狭窄区域测量。

采用精密不锈钢材质制造，具备50~950μm量程范围，10个阶齿设计可精确测量湿膜厚度，确保涂装质量并避免材料浪费。