仪器商品分类

    荧光膜测厚仪

    荧光膜测厚仪利用X射线激发样品涂层产生荧光,通过检测荧光强度计算膜层厚度。用于测量金属基材上薄涂层厚度,常见于电镀、阳极氧化等表面处理行业。
    仪器选型
    选择时考虑基材类型与涂层元素匹配仪器分析范围,根据测量精度需求选择分辨率,环境适应性需满足现场防尘防震要求,操作界面应简洁易读便于日常快速检测。

    标准

    检测仪器

    采用LED光源和45/0照测条件,测量范围0~199.9,分辨率0.1,可检测荧光增白剂并测定增白度,重复性≤0.3。

    ¥ 2130.00

    采用457nm蓝光波长测量漫反射因数,重复性达0.2,可检测荧光增白剂并计算荧光白度值,适用于多种材料表面白度分析。

    ¥ 2980.00

    采用磁感应原理,测量范围0~1250μm,适配leeb220和leeb222涂层测厚仪,耐磨性好,适用于多种非磁性涂层厚度检测。

    专用于涂层测厚仪校准,确保厚度测量准确,适用于F型设备,提升检测可靠性。

    ¥ 90.00

    采用超声波测量原理,测量范围50~3800μm,精度±(2μm+3%),适用于混凝土和玻璃纤维等基材的涂层厚度检测。

    ¥ 17760.00

    采用挤压式生产工艺,湿膜厚度6微米,精度达0.5微米,清洗方便且无断丝之忧,确保涂层制备的精准和耐用。

    ¥ 288.00

    测量厚度达25mm,误差仅±3%,采用可移动FJS探头,适用于厚保护涂层基材,具备统计功能和250000个数据存储能力。

    ¥ 12650.00

    采用挤压式生产工艺,涂布量约为绕丝涂布棒的两倍,湿膜厚度13μm,涂膜精度达到0.5微米,材质为304不锈钢。

    ¥ 288.00

    可涂布13微米湿膜厚度,涂布宽度达300mm,采用304不锈钢材质确保耐用性和精确的涂层控制。

    ¥ 650.00

    采用斜式标准看台和标准日光灯照射,工作台尺寸270*270mm可旋转,通过目视标记圈出试样上尘埃,用标准尘埃对比图鉴定尘埃面积大小,符合GB/T1541等标准要求。

    采用磁感应和电涡流原理同时测量复合涂层,测量范围0~1500μm,误差±1%,可显示单个涂层和锌层厚度,适用于铁质和非铁质底材的精确检测。

    ¥ 9600.00

    采用超声波测量原理,测量范围13~1000μm,精度±(2μm+3%),适用于木材、塑料等基材上的聚合物涂层厚度检测。

    ¥ 15980.00

    绕丝式设计,湿膜厚度125.7微米,涂布宽度300毫米,不锈钢材质确保耐用性和精确涂布效果。

    ¥ 580.00

    适配5500和9500系列探头,采用直探头设计,提供稳定连接和可靠数据传输,提升涂层厚度测量效率。

    ¥ 1110.00

    采用一体式传感器结构,测量范围0-3000μm,误差±3%,便于携带且稳定性高,适用于多种涂层厚度检测。

    ¥ 2400.00

    应用知识