仪器商品分类

    红外线热成像测温仪

    红外线热成像测温仪通过接收物体表面散发的红外辐射,将其转换为温度分布图像。用于非接触式测量物体表面温度,在设备故障检测、材料研究中应用。

    检测仪器

    测量范围0-40000W/m²,光谱响应1000-1700nm,可自动计算并显示红外阻隔率,感光孔径10mm,适用于多种红外光源和隔热材料的性能测试。

    ¥ 470.00

    采用氧化钒非制冷红外焦平面探测器,测温分辨率达0.1℃,具备56°×42.2°视场角和免调焦设计,支持中心点测温和冷热点自动追踪功能。

    ¥ 2199.00

    配备红外传感器和热敏探头双测量模式,响应时间仅1秒,光学系数3:1,支持-40~150℃宽范围测温,满足不同场景的精准温度检测需求。

    ¥ 3600.00

    具备260*200热成像分辨率和70mK热灵敏度,可快速定位电路板异常温升点,支持-10~120℃测温范围,配备可调镜头和多向调节支架,便于精确观测电路板热分布状态。

    ¥ 5880.00

    采用红外热源实现快速干燥,功率550W,金属材质确保耐用性,内置加热元件产生均匀热循环,有效蒸发水分,适用于各种物料烘干。

    ¥ 530.00

    采用二箱移动式结构,气压驱动测试物冲击,冷热冲击机构移动时间10秒内,温度恢复时间5分钟内,符合MIL等国际测试标准。

    ¥ 122300.00

    采用二箱移动式冲击结构,冷热冲击机构移动时间在10秒内,温度恢复时间≤5分钟,配备硬质聚氨酯泡沫保温材料,有效节能且防水防潮。

    ¥ 146300.00

    支持热变形和维卡软化点测试,控温范围达300℃,温度控制精度±0.5℃,采用机械搅拌和大容量油箱确保温场均匀,上下位机双控模式操作灵活。

    ¥ 13800.00

    采用不分光红外NDIR传感器,量程0~1000ppm,响应时间≤15秒,支持多种信号输出和远程传输,具备过压保护和自动恢复功能。

    ¥ 15000.00

    采用不分光红外NDIR传感器,响应时间≤15s,检测精度≤±2%,支持PPM、%VOL、mg/m³单位切换,具备过压保护和自动恢复功能。

    ¥ 15000.00

    采用瞬态平面热源法,测试时间不超过160秒,灵敏度达0.00001,可测量0.0001至50W/(m*K)的导热系数,支持多种形态样品并符合国际标准。

    ¥ 80000.00

    采用不分光红外NDIR传感器,响应时间≤15s,精度≤±2%,支持多种信号输出和远程传输,具备过压、防雷等保护功能,确保稳定可靠监测。

    ¥ 14220.00

    采用远红外辐射加热技术,控温范围RT+~300℃,温度波动度±2℃,配备热敏电阻控测温仪,快速低耗调节方便。

    ¥ 2689.00

    采用油浴加热介质,温度范围室温至200℃,控温精度±0.5℃,配备试样夹持网架,保证受温稳定,适用于各种薄膜热收缩率测试。

    ¥ 8900.00

    采用远红外辐射加热技术,控温精度±2℃,配备热敏电阻控测温仪,实现快速低耗干燥,工作室尺寸320*380*320mm。

    ¥ 1969.00