采用2850mm导砂管和850μm过滤网控制落砂,校正漏斗可调整砂量均匀性,样品架可自由调节高度和水平方向,确保测试精度和可靠性。
具备0.2°~2.0°连续可调观测角和多种入射角设置,测量范围0~1999 mcd•lx-1,采用硅二极管探测器和标准A光源,确保测量精度与国际标准一致。
该仪器观测角0.2°~2.0°连续可调,入射角覆盖±0°至±20°,测量范围达0~3000 mcd•lx-1,采用硅二极管探测器和标准A光源,确保测量准确性。
测量范围0-20mm,精度0.01mm,接触压力20±0.5kPa,接触面直径35.7mm,适用于多种片状材料厚度检测,确保高平行度和准确度。
该设备冲击锤头半径为6.4mm,总质量190±2g,结构合理、操作简单、适用性广、测量精度高且安全可靠,符合GB/T24725-2009标准要求。
观测角0.2°~2.0°连续可调,入射角-40°~+40°可调,采用硅二极管探测器和锂电池供电,支持连续工作30小时以上,适合室内外测量。
采用45/0环形均匀照明结构,测量时间仅需1.5秒,色度值重复性ΔE*ab 0.04以内,支持多边形容差标样判定,可自定义色域范围,满足特殊检测需求。
测量范围0-6mm,精度达0.01mm,接触压力100±5kpa,具备数显功能和稳定平行度测量,适用于多种材料厚度检测。
采用激光反射原理实现单侧测量,精度达0.1mm,可同时获取多层玻璃及空气层厚度,支持自动和人工模式,适应三玻两腔、夹胶玻璃等多种材料。
测量范围0-12.7mm,分度值达0.001mm,采用平面测头设计,确保测试数据准确可靠,适用于各类材料厚度检测。