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    PHYNIX Surfix®E-FN 两用统计型膜厚仪 磁感应电涡流双原理测量

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    采用磁感应与电涡流双测量原理,测量范围覆盖0至1500微米,精度达±(1μm+1%)。具备统计功能,可存储数据,并通过红外接口传输,防护等级为IP52,适应多种工业环境。

    分类 : 涂层测厚仪

    品牌 : PHYNIX

    编号 : NB012544